Ocena niezawodności elementów półprzewodnikowych. - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Ocena niezawodności elementów półprzewodnikowych.

Abstrakt

Omówiono metody oceny niezawodności elementów półprzewodnikowych, w szczególności w oparciu o badania przyspieszone. Badania te powiązano ściśle z procesem technologii wytwarzania przyrządów półprzewodnikowych. Szerzej omówiono przyczyny uszkodzeń elementów półprzewodnikowych. Przedstawiono predykcję niezawodności opartą na badaniach przyspieszonych. Wskazano na coraz szersze zainteresowanie badaniami niezawodności na podstawie pomiarów poziomu szumów małoczęstotliwościowych.

Cytuj jako

Pełna treść

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Publikacja w czasopiśmie
Typ:
artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
Opublikowano w:
Elektronizacja: podzespoły i zastosowania elektroniki strony 2 - 5,
ISSN: 0138-0826
Język:
polski
Rok wydania:
2003
Opis bibliograficzny:
Spiralski L., Konczakowska A.: Ocena niezawodności elementów półprzewodnikowych.// Elektronizacja: podzespoły i zastosowania elektroniki. -., nr. 2 (2003), s.2-5
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

wyświetlono 15 razy

Publikacje, które mogą cię zainteresować

Meta Tagi