Wyszukiwarka
Abstrakt
Omówiono metody oceny niezawodności elementów półprzewodnikowych, w szczególności w oparciu o badania przyspieszone. Badania te powiązano ściśle z procesem technologii wytwarzania przyrządów półprzewodnikowych. Szerzej omówiono przyczyny uszkodzeń elementów półprzewodnikowych. Przedstawiono predykcję niezawodności opartą na badaniach przyspieszonych. Wskazano na coraz szersze zainteresowanie badaniami niezawodności na podstawie pomiarów poziomu szumów małoczęstotliwościowych.
Autorzy (2)
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Opublikowano w:
-
Elektronizacja: podzespoły i zastosowania elektroniki
strony 2 - 5,
ISSN: 0138-0826 - Język:
- polski
- Rok wydania:
- 2003
- Opis bibliograficzny:
- Spiralski L., Konczakowska A.: Ocena niezawodności elementów półprzewodnikowych.// Elektronizacja: podzespoły i zastosowania elektroniki. -., nr. 2 (2003), s.2-5
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 103 razy