Ocena powiązań pomiędzy poziomem szumów 1/f diod mocy a ich napięciem przebicia. - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Ocena powiązań pomiędzy poziomem szumów 1/f diod mocy a ich napięciem przebicia.

Abstrakt

Na podstawie przeprowadzonych badań można przyjąć, że diody mocy typu BYP680 mogą być klasyfikowane do grupy diod o podwyższonej jakości na podstawie wyników pomiaru szumów 1/f.

Cytuj jako

Pełna treść

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Publikacja w czasopiśmie
Typ:
artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
Opublikowano w:
Elektronizacja: podzespoły i zastosowania elektroniki strony 6 - 7,
ISSN: 0138-0826
Język:
polski
Rok wydania:
2003
Opis bibliograficzny:
Konczakowska A.: Ocena powiązań pomiędzy poziomem szumów 1/f diod mocy a ich napięciem przebicia. // Elektronizacja: podzespoły i zastosowania elektroniki. -., nr. 2 (2003), s.6-7
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

wyświetlono 10 razy

Publikacje, które mogą cię zainteresować

Meta Tagi