Wyszukiwarka
Abstrakt
Przedstawiono zależności Mott'a - Schottky'ego dla różnych częstotliwości pomiarowych. Kształt uzyskanych zależności zależy od doboru tych częstotliwości. Związane jest to z tym, że stężenie defektów w warstwie pasywnej zależy od doboru częstotliwości. Metoda DEIS pozwala na uniknięcie tych niedogodności.
Autorzy (3)
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- artykuł w czasopiśmie z listy filadelfijskiej
- Opublikowano w:
-
ELECTROCHIMICA ACTA
nr 51,
strony 2204 - 2208,
ISSN: 0013-4686 - Język:
- angielski
- Rok wydania:
- 2006
- Opis bibliograficzny:
- Darowicki K., Krakowiak S., Ślepski P.: Selection of measurement frequency in Mott-Schottky analysis of passive layer on nickel// ELECTROCHIMICA ACTA. -Vol. 51., (2006), s.2204-2208
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 83 razy