Selection of measurement frequency in Mott-Schottky analysis of passive layer on nickel - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Selection of measurement frequency in Mott-Schottky analysis of passive layer on nickel

Abstrakt

Przedstawiono zależności Mott'a - Schottky'ego dla różnych częstotliwości pomiarowych. Kształt uzyskanych zależności zależy od doboru tych częstotliwości. Związane jest to z tym, że stężenie defektów w warstwie pasywnej zależy od doboru częstotliwości. Metoda DEIS pozwala na uniknięcie tych niedogodności.

Cytuj jako

Pełna treść

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

Słowa kluczowe

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Publikacja w czasopiśmie
Typ:
artykuł w czasopiśmie z listy filadelfijskiej
Opublikowano w:
ELECTROCHIMICA ACTA nr 51, strony 2204 - 2208,
ISSN: 0013-4686
Język:
angielski
Rok wydania:
2006
Opis bibliograficzny:
Darowicki K., Krakowiak S., Ślepski P.: Selection of measurement frequency in Mott-Schottky analysis of passive layer on nickel// ELECTROCHIMICA ACTA. -Vol. 51., (2006), s.2204-2208
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

wyświetlono 26 razy

Publikacje, które mogą cię zainteresować

Meta Tagi