Self-testing of fully differential multistage circuits using common-mode excitation - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Self-testing of fully differential multistage circuits using common-mode excitation

Abstrakt

Przedmiotem artykułu jest, zorientowane na uszkodzenia, testowanie wielostopniowych układów w pełni różnicowych. Zaproponowano metodę testowania z zastosowaniem pobudzenia układu testowanego sygnałem wspólnym. Rozważane są dwa warianty metody. Pierwszy wariant wykorzystuje do pobudzenia wejście każdego różnicowego stopnia. Drugi wariant wykorzystuje dodatkowe wejście wzmacniacza operacyjnego i testuje wielostopniowy układ bez jego podziału na odzielne bloki. Przedmiotem artykułu jest teoretyczna i eksperymentalna weryfikacja metody. Wykazano, że metoda ma przewagę, z punktu widzenia jakości testu, nad wcześniej znaną metodą, która wykorzystuje pobudzenie sygnałem różnicowym. Porównanie przeprowadzono na bazie parametrów jakości testu estymowanych z dokładnością na poziomie ppm. Dla dokładnego wyznaczenia miar jakości testu: poziomu defektów, straty uzysku i pokrycia uszkodzeń, dokonano syntezy modelu probabilistycznego odpowiedzi układu testowanego. Model pozwolił na wyznaczenie parametrów testu w funkcji tolerancji produkcyjnych i niepewności progu komparatora. Metodę zastosowano do testowania filtru pasmowoprzepustowego Deliyannisa-Frienda. Przedstawiono wyniki pomiarów, które weryfikują deterministyczne właściwości metody i wyniki symulacji komputerowych, które weryfikują właściwości probabilistyczne.

Cytowania

  • 3

    CrossRef

  • 0

    Web of Science

  • 9

    Scopus

Cytuj jako

Pełna treść

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

Słowa kluczowe

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Publikacja w czasopiśmie
Typ:
artykuł w czasopiśmie z listy filadelfijskiej
Opublikowano w:
MICROELECTRONICS RELIABILITY nr 48, strony 1890 - 1899,
ISSN: 0026-2714
Język:
angielski
Rok wydania:
2008
Opis bibliograficzny:
Toczek W.: Self-testing of fully differential multistage circuits using common-mode excitation// MICROELECTRONICS RELIABILITY. -Vol. 48., (2008), s.1890-1899
DOI:
Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.1016/j.microrel.2008.09.007
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

wyświetlono 66 razy

Publikacje, które mogą cię zainteresować

Meta Tagi