Skaningowa impedancyjna mikroskopia sił atomowych

Kazimierz Darowicki; Artur Zieliński

Skaningowa impedancyjna mikroskopia sił atomowych

Abstrakt

W pracy przedstawiono nowatorskie podejście do analizy impedancyjnej sprzężonej z mikroskopią sił atomowych. Stosowane współcześnie metody pomiaru impedancyjnego w kontaktowym trybie AFM opierają się na punktowym pomiarze zmiennoprądowym z wykorzystaniem sekwencyjnego, sinusoidalnego pobudzania badanego obiektu. Autorzy proponują wykorzystanie techniki dynamicznej, co umożliwia uzyskiwanie widm impedancyjnych w warunkach ciągłego skanowania powierzchni.

Autorzy (2)

Kazimierz Darowicki prof. dr hab. inż.
Artur Zieliński dr hab. inż.

Cytuj jako

Pełna treść

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

Słowa kluczowe

Informacje szczegółowe

Kategoria:: Publikacja w czasopiśmie
Typ:: artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
Opublikowano w:: Ochrona przed Korozją nr 1, strony 335 - 339,
ISSN: 0473-7733
Język:: polski
Rok wydania:: 2007
Opis bibliograficzny:: Darowicki K., Zieliński A.: Skaningowa impedancyjna mikroskopia sił atomowych// Ochrona przed Korozją. -Vol. 1., nr. 11s/A (2007), s.335-339
Weryfikacja:: Politechnika Gdańska