Abstrakt
Przedstawiono system do pomiarów mało-częstotliwościowych szumów struktur elementów półprzewodnikowych. Szczegółowo omówiono zaprojektowane i wykonane oprogramowanie sterujące systemem pomiarowym.
Autor (1)
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Aktywność konferencyjna
- Typ:
- publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
- Tytuł wydania:
- II Krajowa Konferencja Elektroniki. KKE´2003.T. 2/2 strony 549 - 553
- Język:
- polski
- Rok wydania:
- 2003
- Opis bibliograficzny:
- Szewczyk A.: Sposób sterowania systemem do pomiarów struktur elementów półprzewodnikowych// II Krajowa Konferencja Elektroniki. KKE´2003.T. 2/2/ ed. W.Janke, M. Bączek, R. Łuczak, P. Łuczak. Koszalin: P. Koszal., 2003, s.549-553
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 60 razy