Sposób sterowania systemem do pomiarów struktur elementów półprzewodnikowych - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Sposób sterowania systemem do pomiarów struktur elementów półprzewodnikowych

Abstrakt

Przedstawiono system do pomiarów mało-częstotliwościowych szumów struktur elementów półprzewodnikowych. Szczegółowo omówiono zaprojektowane i wykonane oprogramowanie sterujące systemem pomiarowym.

Cytuj jako

Pełna treść

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Aktywność konferencyjna
Typ:
publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
Tytuł wydania:
II Krajowa Konferencja Elektroniki. KKE´2003.T. 2/2 strony 549 - 553
Język:
polski
Rok wydania:
2003
Opis bibliograficzny:
Szewczyk A.: Sposób sterowania systemem do pomiarów struktur elementów półprzewodnikowych// II Krajowa Konferencja Elektroniki. KKE´2003.T. 2/2/ ed. W.Janke, M. Bączek, R. Łuczak, P. Łuczak. Koszalin: P. Koszal., 2003, s.549-553
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

wyświetlono 2 razy

Publikacje, które mogą cię zainteresować

Meta Tagi