Study of the Layer-Type BST Thin Film with X-ray Diffraction and X-ray Photoelectron Spectroscopy - Publikacja - MOST Wiedzy

Twoje konto

zaloguj

Wyszukiwarka

Study of the Layer-Type BST Thin Film with X-ray Diffraction and X-ray Photoelectron Spectroscopy

Abstrakt

In the present paper, results of X-ray photoelectron studies of electroceramic thin films of barium strontium titanate, Ba1xSrxTiO3 (BST), composition deposited on stainless-steel substrates are presented. The thin films were prepared by the sol-gel method. A spin-coating deposition of BST layers with different chemical compositions was utilized so the layer-type structure of (0-2) connectivity was formed. After the deposition, the thin-film samples were heated in air atmosphere at temperature T = 700 C for 1 h. The surfaces of BST thin films subjected to thermal treatment were studied by X-ray diffraction. X-ray diffraction measurements confirmed the perovskite-type phase for all grown thin-film samples. The oxidation states of the elements were examined by the X-ray photoelectron spectroscopy method. X-ray photoelectron spectroscopy survey spectra as well as high-resolution spectra (photo-peaks) of the main metallic elements, such as Ti, Ba, and Sr, were compared for the layer-type structures, differing in the deposition sequence of the barium strontium titanate layers constituting the BST thin film.

Cytowania

  • 2

    CrossRef

  • 0

    Web of Science

  • 2

    Scopus

Autorzy (2)

Cytuj jako

Pełna treść

pobierz publikację
pobrano 70 razy
Wersja publikacji
Accepted albo Published Version
DOI:
Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.3390/ma15020578
Licencja
Creative Commons: CC-BY otwiera się w nowej karcie

Słowa kluczowe

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Publikacja w czasopiśmie
Typ:
artykuły w czasopismach
Opublikowano w:
Materials nr 15,
ISSN: 1996-1944
Język:
angielski
Rok wydania:
2022
Opis bibliograficzny:
Lisińska-Czekaj A., Czekaj D.: Study of the Layer-Type BST Thin Film with X-ray Diffraction and X-ray Photoelectron Spectroscopy// Materials -Vol. 15,iss. 2 (2022), s.578-
DOI:
Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.3390/ma15020578
Źródła finansowania:
  • Działalność statutowa/subwencja
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

wyświetlono 144 razy

Publikacje, które mogą cię zainteresować

Fabrication and Crystal Structure of Sol-Gel Deposited BST Thin Films with Compositional Gradient

2017

Enhanced Spectroscopic Insight into Acceptor-Modified Barium Strontium Titanate Thin Films Deposited via the Sol–Gel Method

2024

Structure and optical parameters of Eu doped tellurium oxide thin films prepared by reactive magnetron sputtering method

2019

Study of nanomechanical properties of (1-y)BST-yMgO thin films

2017
Meta Tagi