Systemy automatycznej kontroli wymiarowej mikroziaren ściernych - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Systemy automatycznej kontroli wymiarowej mikroziaren ściernych

Abstrakt

Przedstawiono wyniki badań wymiarów mikroziaren ściernych stosowanych w operacjach docierania. Badania z wykorzystaniem analizatora laserowego poprzedziła analiza mikroskopowa rzutów mikroziaren na płaszczyznę obserwacji. Analizowano wymiary (długość i szerokość) oraz pole powierzchni jego obrazu. Pomiary przeprowadzono na skomputeryzowanym stanowisku, wyposażonym w mikroskop stereoskopowy, kamerę CCD i oprogramowanie MultiScan v6.08

Pełna treść

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Archiwalna
Typ:
publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
Tytuł wydania:
Diag'2006 : Diagnostyka Techniczna Urządzeń i Systemów : VI krajowa konferencja, Ustroń, 17-29 października 2006 strony 15 - 16
Język:
polski
Rok wydania:
2006
Opis bibliograficzny:
Barylski A.: Systemy automatycznej kontroli wymiarowej mikroziaren ściernych// Diag'2006 : Diagnostyka Techniczna Urządzeń i Systemów : VI krajowa konferencja, Ustroń, 17-29 października 2006/ Warszawa: Inst. Syst. Elektron. Wydz. Elektron. WAT, 2006, s.15-16
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

wyświetlono 0 razy

Publikacje, które mogą cię zainteresować

Meta Tagi