Abstrakt
Przedstawiono wyniki badań wymiarów mikroziaren ściernych stosowanych w operacjach docierania. Badania z wykorzystaniem analizatora laserowego poprzedziła analiza mikroskopowa rzutów mikroziaren na płaszczyznę obserwacji. Analizowano wymiary (długość i szerokość) oraz pole powierzchni jego obrazu. Pomiary przeprowadzono na skomputeryzowanym stanowisku, wyposażonym w mikroskop stereoskopowy, kamerę CCD i oprogramowanie MultiScan v6.08
Autor (1)
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Aktywność konferencyjna
- Typ:
- publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
- Tytuł wydania:
- Diag'2006 : Diagnostyka Techniczna Urządzeń i Systemów : VI krajowa konferencja, Ustroń, 17-29 października 2006 strony 15 - 16
- Język:
- polski
- Rok wydania:
- 2006
- Opis bibliograficzny:
- Barylski A.: Systemy automatycznej kontroli wymiarowej mikroziaren ściernych// Diag'2006 : Diagnostyka Techniczna Urządzeń i Systemów : VI krajowa konferencja, Ustroń, 17-29 października 2006/ Warszawa: Inst. Syst. Elektron. Wydz. Elektron. WAT, 2006, s.15-16
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 126 razy