Wyszukiwarka
Abstrakt
Omówiono metody realizacji w technice analogowej i cyfrowej wbudowanych źródeł sygnałów testujących. Zaprezentowano sposoby analizy odpowiedzi: metodę histogramową, cyfrowego przetwarzania sygnałów oraz wykorzystanie koncepcji "macierzy z sumą kontrolną". Przedstawiono metodę testowania oscylacyjnego oraz DACBIST przeznaczony do testowania przetworników C/A, łączący testowanie oscylacyjne z techniką modulacji sigma-delta.
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Opublikowano w:
-
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
nr 43,
strony 34 - 37,
ISSN: 0033-2089 - Język:
- polski
- Rok wydania:
- 2002
- Opis bibliograficzny:
- Toczek W.: Testery wbudowane (BIST) układów analogowych i mieszanych sygnałowo// Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania. -Vol. 43., nr. 6 (2002), s.34-37
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 133 razy