Testery wbudowane (BIST) układów analogowych i mieszanych sygnałowo - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Testery wbudowane (BIST) układów analogowych i mieszanych sygnałowo

Abstrakt

Omówiono metody realizacji w technice analogowej i cyfrowej wbudowanych źródeł sygnałów testujących. Zaprezentowano sposoby analizy odpowiedzi: metodę histogramową, cyfrowego przetwarzania sygnałów oraz wykorzystanie koncepcji "macierzy z sumą kontrolną". Przedstawiono metodę testowania oscylacyjnego oraz DACBIST przeznaczony do testowania przetworników C/A, łączący testowanie oscylacyjne z techniką modulacji sigma-delta.

Wojciech Toczek. (2002). Testery wbudowane (BIST) układów analogowych i mieszanych sygnałowo, 43(6), 34-37.

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Publikacja w czasopiśmie
Typ:
artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
Opublikowano w:
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania nr 43, strony 34 - 37,
ISSN: 0033-2089
Język:
polski
Rok wydania:
2002
Opis bibliograficzny:
Toczek W.: Testery wbudowane (BIST) układów analogowych i mieszanych sygnałowo// Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania. -Vol. 43., nr. 6 (2002), s.34-37

wyświetlono 0 razy

Meta Tagi