Testing method of analog parts for mixed signal microsystems based on microcontrolles. - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Testing method of analog parts for mixed signal microsystems based on microcontrolles.

Abstrakt

Zaproponowano nową metodę detekcji i lokalizacji pojedynczych uszkodzeń parametrycznych, która może znaleźć zastosowanie do samo-testowania sieci analogowych w mikrosystemach mieszanych sygnałowo sterowanych mikrokontrolerami. Metoda ta jest oparta na przekształceniu transformującym próbki odpowiedzi czasowej na pobudzenie impulsem prostokątnym na krzywe identyfikacyjne na płaszczyźnie. Metoda pozwala na detekcję i lokalizację pojedynczych uszkodzeń parametrycznych w układach analogowych. Cechuje się niewielką złożonością obliczeniową, dzięki czemu jej procedury diagnostyczne mogą być realizowane przez proste 8-bitowe mikrokontrolery powszechnie używane w praktyce. Ponadto nie wymaga rozbudowy mikrosystemu o dodatkowe elementy (BIST), gdyż do generacji przebiegu prostokątnego i pomiaru próbek napięcia odpowiedzi testowanej części analogowej wystarczają zasoby wewnętrzne mikrokontrolera takie jak: wyjścia cyfrowe, liczniki i przetworniki analogowo-cyfrowe.

Cytuj jako

Pełna treść

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

Słowa kluczowe

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Aktywność konferencyjna
Typ:
publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
Język:
angielski
Rok wydania:
2004
Opis bibliograficzny:
Czaja Z.: Testing method of analog parts for mixed signal microsystems based on microcontrolles.// / : , 2004,
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

wyświetlono 13 razy

Publikacje, które mogą cię zainteresować

Meta Tagi