Testing oscillators by waveform comparison with the ideal sine-wave - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Testing oscillators by waveform comparison with the ideal sine-wave

Abstrakt

W kontekście oscylacyjnej metody testowania zaproponowano prostą i mało kosztowną metodę testowania oscylatorów poprzez porównanie fragmentu generowanego przebiegu z wzorcowym przebiegiem sinusoidalnym. Metoda bazuje na odejmowaniu dwu sygnałów zmodulowanych techniką sigma-delta za pomocą subtraktora wykorzystujacego nadpróbkowanie i kształtowanie szumów. Sygnaturą uszkodzeń jest wartość średnia 1 bitowego strumienia danych, wyznaczana za pomocą licznika rewersyjnego. Wyniki symulacji uzyskane na przykładzie oscylatora Van der Pola wykazują, że proponowana sygnatura jest wrażliwa na odchyłki częstotliwości i amplitudy drgań, a także wykrywa oscylacje nieliniowe.

Cytuj jako

Pełna treść

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Aktywność konferencyjna
Typ:
publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
Język:
angielski
Rok wydania:
2005
Opis bibliograficzny:
Toczek W.: Testing oscillators by waveform comparison with the ideal sine-wave // / : , 2005,
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

wyświetlono 6 razy

Publikacje, które mogą cię zainteresować

Meta Tagi