Wyszukiwarka
Abstrakt
Przedstawiono opracowaną w grudniu 2009 r. cyfrową magistralę testującą IEEE 1149.7 przeznaczoną do testowania i debuggingu wielordzeniowych układów wbudowanych. W stosunku do magistrali IEEE1149.1, której jest rozszerzeniem, magistrala IEEE1149.7 zapewnia zredukowaną do dwóch liczbę wyprowadzeń, możliwość pracy w konfiguracji gwiazdowej, indywidualne adresowanie urządzeń, eliminację ze ścieżki brzegowej nieaktywnych układów, zarządzanie zasilaniem oraz rozszerzone możliwości debugingu oprogramowania układów mikroprocesorowych.
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Opublikowano w:
-
Measurement Automation Monitoring
nr 57,
strony 1372 - 1375,
ISSN: 2450-2855 - Język:
- polski
- Rok wydania:
- 2011
- Opis bibliograficzny:
- Bartosiński B.: Testowanie układów cyfrowych z wykorzystaniem magistrali IEEE 1149.7// Pomiary Automatyka Kontrola. -Vol. 57., nr. nr 11 (2011), s.1372-1375
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 81 razy