Wyszukiwarka
Abstrakt
Przedstawiono najnowsze trendy w dziedzinie testowania układów elektronicznych z wykorzystaniem opartych na brzegowej ścieżce sterująco-obserwacyjnej magistral testujących. Dla każdej magistrali przedstawiono jej strukturę oraz rozwiązania kluczowych elementów. Przedstawiono wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali IEEE 1149.4 do testowania i identyfikacji uszkodzeń w układach elektronicznych z użyciem wyposażonych w magistralę układów SCANSTA400. Zaprezentowano dwie nowe, będącą w fazie opracowywania standardu, propozycje ułatwionego testowania: normę IEEE P1581 do testowania pamięci oraz normę IEEE 149.8.1 do testowania złącz z wykorzystaniem sondy pojemnościowej. Przedyskutowano zalety i wady poszczególnych magistral oraz przedstawiono perspektywy i kierunki ich dalszego rozwoju w zakresie testowania a także programowania i debugingu systemów wbudowanych opartych na mikrokontrolerach, ze szczególnym uwzględnieniem opracowywanej w grudniu 2009 dwuprzewodowej magistrali IEEE 1149.7.
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- artykuł w czasopiśmie wyróżnionym w JCR
- Opublikowano w:
-
Przegląd Elektrotechniczny
strony 1 - 4,
ISSN: 0033-2097 - Język:
- polski
- Rok wydania:
- 2010
- Opis bibliograficzny:
- Bartosiński B.: Współczesne trendy w diagnostyce układów elektronicznych z wykorzystaniem magistral testujących // Przegląd Elektrotechniczny. -, nr. nr 9 (2010), s.1-4
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 106 razy