Współczesne trendy w diagnostyce układów elektronicznych z wykorzystaniem magistral testujących - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Współczesne trendy w diagnostyce układów elektronicznych z wykorzystaniem magistral testujących

Abstrakt

Przedstawiono najnowsze trendy w dziedzinie testowania układów elektronicznych z wykorzystaniem opartych na brzegowej ścieżce sterująco-obserwacyjnej magistral testujących. Dla każdej magistrali przedstawiono jej strukturę oraz rozwiązania kluczowych elementów. Przedstawiono wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali IEEE 1149.4 do testowania i identyfikacji uszkodzeń w układach elektronicznych z użyciem wyposażonych w magistralę układów SCANSTA400. Zaprezentowano dwie nowe, będącą w fazie opracowywania standardu, propozycje ułatwionego testowania: normę IEEE P1581 do testowania pamięci oraz normę IEEE 149.8.1 do testowania złącz z wykorzystaniem sondy pojemnościowej. Przedyskutowano zalety i wady poszczególnych magistral oraz przedstawiono perspektywy i kierunki ich dalszego rozwoju w zakresie testowania a także programowania i debugingu systemów wbudowanych opartych na mikrokontrolerach, ze szczególnym uwzględnieniem opracowywanej w grudniu 2009 dwuprzewodowej magistrali IEEE 1149.7.

Pełna treść

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Publikacja w czasopiśmie
Typ:
artykuł w czasopiśmie wyróżnionym w JCR
Opublikowano w:
Przegląd Elektrotechniczny strony 1 - 4,
ISSN: 0033-2097
Język:
polski
Rok wydania:
2010
Opis bibliograficzny:
Bartosiński B.: Współczesne trendy w diagnostyce układów elektronicznych z wykorzystaniem magistral testujących // Przegląd Elektrotechniczny. -, nr. nr 9 (2010), s.1-4
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

wyświetlono 20 razy

Publikacje, które mogą cię zainteresować

Meta Tagi