Wyszukiwarka
Wykorzystanie przetworników A/C wbudowanych w mikrokontrolery do pomiarów parametrów sygnałów zmiennych
Abstrakt
Przedstawiono nową metodę pomiaru parametrów przebiegów sinusoidalnych, takich jak okres, amplituda i napięcie offsetu, opracowaną dla elektronicznych systemów wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Ideą metody jest utworzenie z wewnętrznych pomiarowych urządzeń peryferyjnych mikrokontrolera (liczników, przetworników A/C i komparatorów analogowych) rekonfigurowanych mikrosystemów pomiarowych cechujących się dużą elastycznością konfiguracyjną i niskim kosztem aplikacji. Przeprowadzono również ocenę niepewności pomiaru napięcia zaproponowaną metodą. Jej wyniki określają rozdzielczość i niepewność pomiaru napięć oraz dozwolone pasmo częstotliwości sygnałów mierzonych dla zaproponowanej metody.
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- artykuł w czasopiśmie wyróżnionym w JCR
- Opublikowano w:
-
Przegląd Elektrotechniczny
nr R. 86,
strony 5 - 8,
ISSN: 0033-2097 - Język:
- polski
- Rok wydania:
- 2010
- Opis bibliograficzny:
- Czaja Z.: Wykorzystanie przetworników A/C wbudowanych w mikrokontrolery do pomiarów parametrów sygnałów zmiennych// Przegląd Elektrotechniczny. -Vol. R. 86, nr. Nr 9 (2010), s.5-8
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 95 razy
Publikacje, które mogą cię zainteresować
Ocena niepewności pomiaru współczynnika zawartości harmonicznych.
- S. Galla,
- L. Spiralski,
- B. Pałczyńska