Wyszukiwarka
Abstrakt
Przedmiotem niniejszej pracy jest optyczna metoda spektroskopii reflektancyjnej do pomiaru in situ grubości warstwy przyściennej w procesie wytłaczania past ceramicznych, którą można stosować bez zakłócania przebiegu procesu. Może ona znaleźć zastosowanie do dostarczania danych w analizie i modelowaniu procesu wytłaczania, a także do kontroli on-line przebiegu procesu produkcyjnego.
Autorzy (3)
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Rok wydania:
- 2006
- Opis bibliograficzny:
- Graczyk J., Wroczyński P., Bogdanowicz R.: Wytłaczanie past ceramicznych - optyczny monitoring poślizgu przyściennego // Ceramika. Polski Biuletyn Ceramiczny.. -Vol. 91., (2006), s.995-1002
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 109 razy
Publikacje, które mogą cię zainteresować
Monitoring ramanowski wzrostu cienkich warstw węglowych-studium
- M. Gnyba,
- M. Kozanecki,
- P. Wroczyński
- + 1 autorów
2010
Badanie właściwości fotoelektrycznych cienkich warstw tlenków TiO2:V na zautomatyzowanym stanowisku dla metody obic
- K. Sieradzka,
- A. Bogdan,
- J. Domaradzki
- + 2 autorów
2009
Monitoring ramanowski wzrostu cienkich warstw węglowych-studium
- M. Gnyba,
- M. Kozanecki,
- P. Wroczyński
- + 1 autorów
2010
Long-working-distance Raman system for monitoring of uPA ECR CVD process of thin diamond/DLC layers growth
- M. Gnyba,
- M. Kozanecki,
- B. Kosmowski
- + 2 autorów
2009