Wyszukiwarka
Abstrakt
Praca poświęcona jest wykorzystaniu analizy widm XAFS zmierzonych na krawędzi K atomów Nb do badania struktury cienkich warstw NbN-(100-x)SiO2 (x = 100, 80, 60 mol%) otrzymanych techniką zol-żel poprzez wysokotemperaturowe wygrzewanie warstw Nb2O5-SiO2 w atmosferze NH3. Otrzymana struktura filmu jest złożona z granul NbN ulokowanych w matrycy SiO2. Analiza XAFS pokazuje, że we wszystkich próbkach w lokalnym otoczeniu niobu znajduje się zarówno azot jak i tlen, przy czym wewnątrz granul dominuje uporządkowana struktura typu delta-NbN, zaś w obszarze między granulami dominują tlenki niobu i inne fazy NbN(prawdopodobnie z niższą zawartością azotu). Wyniki XAFS pozwoliły na skorelowanie grubości warstwy i stechiometrii materiału z lokalną strukturą geometryczną i elektronową jonów Nb.
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- artykuł w czasopiśmie wyróżnionym w JCR
- Opublikowano w:
-
JOURNAL OF NON-CRYSTALLINE SOLIDS
nr 358,
ISSN: 0022-3093 - Język:
- angielski
- Rok wydania:
- 2012
- Opis bibliograficzny:
- Witkowska A., Kościelska B.: XAFS investigations of nitrided NbN-SiO2 sol-gel derived films// JOURNAL OF NON-CRYSTALLINE SOLIDS. -Vol. 358, nr. iss. 5 (2012),
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 93 razy
Publikacje, które mogą cię zainteresować
Advanced XAS analysis for investigating fuel cell electrocatalysts
- A. Witkowska,
- E. Principi,
- A. Di Cicco
- + 1 autorów