XAFS investigations of nitrided NbN-SiO2 sol-gel derived films - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

XAFS investigations of nitrided NbN-SiO2 sol-gel derived films

Abstrakt

Praca poświęcona jest wykorzystaniu analizy widm XAFS zmierzonych na krawędzi K atomów Nb do badania struktury cienkich warstw NbN-(100-x)SiO2 (x = 100, 80, 60 mol%) otrzymanych techniką zol-żel poprzez wysokotemperaturowe wygrzewanie warstw Nb2O5-SiO2 w atmosferze NH3. Otrzymana struktura filmu jest złożona z granul NbN ulokowanych w matrycy SiO2. Analiza XAFS pokazuje, że we wszystkich próbkach w lokalnym otoczeniu niobu znajduje się zarówno azot jak i tlen, przy czym wewnątrz granul dominuje uporządkowana struktura typu delta-NbN, zaś w obszarze między granulami dominują tlenki niobu i inne fazy NbN(prawdopodobnie z niższą zawartością azotu). Wyniki XAFS pozwoliły na skorelowanie grubości warstwy i stechiometrii materiału z lokalną strukturą geometryczną i elektronową jonów Nb.

Cytuj jako

Pełna treść

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

Słowa kluczowe

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Publikacja w czasopiśmie
Typ:
artykuł w czasopiśmie wyróżnionym w JCR
Opublikowano w:
JOURNAL OF NON-CRYSTALLINE SOLIDS nr 358,
ISSN: 0022-3093
Język:
angielski
Rok wydania:
2012
Opis bibliograficzny:
Witkowska A., Kościelska B.: XAFS investigations of nitrided NbN-SiO2 sol-gel derived films// JOURNAL OF NON-CRYSTALLINE SOLIDS. -Vol. 358, nr. iss. 5 (2012),
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

wyświetlono 55 razy

Publikacje, które mogą cię zainteresować

Meta Tagi