Wyszukiwarka
Wyniki wyszukiwania dla: FIZYKA ATOMOWA, SPEKTROSKOPIA ELEKTRONOWA, ROZPRASZANIE ELEKTRONÓW NA DROBINACH, PRZEKROJE CZYNNE, FUNKCJE SPECJALNE, TEORIA ROZPRASZANIA, FIZYKA ZDERZEŃ, OPTYKA KRYSZTAŁÓW, OPTYKA ELEKTRONOWA
Filtry
wszystkich: 1723
wybranych: 1
-
Katalog
- Publikacje 989 wyników po odfiltrowaniu
- Czasopisma 42 wyników po odfiltrowaniu
- Osoby 70 wyników po odfiltrowaniu
- Projekty 10 wyników po odfiltrowaniu
- Laboratoria 1 wyników po odfiltrowaniu
- Zespoły Badawcze 10 wyników po odfiltrowaniu
- Kursy Online 585 wyników po odfiltrowaniu
- Wydarzenia 13 wyników po odfiltrowaniu
- Dane Badawcze 3 wyników po odfiltrowaniu
Filtry wybranego katalogu
Wyniki wyszukiwania dla: FIZYKA ATOMOWA, SPEKTROSKOPIA ELEKTRONOWA, ROZPRASZANIE ELEKTRONÓW NA DROBINACH, PRZEKROJE CZYNNE, FUNKCJE SPECJALNE, TEORIA ROZPRASZANIA, FIZYKA ZDERZEŃ, OPTYKA KRYSZTAŁÓW, OPTYKA ELEKTRONOWA
-
Microscopic examination of the texture of paper products
Dane BadawczeAtomic force microscopy (AFM) can be used to study the state of the paper fibers with the aim of providing qualitative and semi-quantitative information on degradation and aging. The work [1] reports the results of tests of various paper products subjected to deliberate aging processes under the influence of various factors. Chemical and biological...