Filtry
wszystkich: 1707
wyświetlamy 1000 najlepszych wyników Pomoc
Wyniki wyszukiwania dla: ATOMIC FORCE MICROSCOPY
-
Application of dynamic impedance spectroscopy to atomic force microscopy
Publikacja -
Visualization and characterization of prolamellar bodies with atomic force microscopy
Publikacja -
Application of dynamic impedance spectroscopy to atomic force microscopy
PublikacjaMikroskopia sił atomowych jest uniwersalną techniką obrazowania powierzchni podczas gdy spektroskopia impedancyjna jest fundamentalną metodą charakteryzowania właściwości elektrycznych materiałów. Z powyższego względu użyteczne jest połączenie powyższych technik dla uzyskania przestrzennego rozkładu wektora impedancji. W pracy autorzy proponują nowe podejście polegające na połączeniu multiczęstotliwościowego pomiaru impedancyjnego...
-
Enhancing capabilities of Atomic Force Microscopy by tip motion harmonics analysis
PublikacjaMotion of a tip used in an atomic force microscope can be described by the Lennard-Jones potential, approximated by the van der Waals force in a long-range interaction. Here we present a general framework of approximation of the tip motion by adding three terms of Taylor series what results in non-zero harmonics in an output signal. We have worked out a measurement system which allows recording of an excitation tip signal and its...
-
Measurement system for nonlinear surface spectroscopy by atomic force microscopy for corrosion processes monitoring
PublikacjaIn addition to traditional imaging the surface, atomic force microscopy (AFM) enables wide variety of additional measurements. One of them is higher harmonic imaging. In tapping mode the nonlinear contact between tip and specimen results in higher frequency vibrations. More information available from the higher harmonics analysis proves to be helpful for more detailed imaging. Such visualization is especially useful for heterogeneous...
-
Nonlinear free and forced vibrations of a dielectric elastomer-based microcantilever for atomic force microscopy
PublikacjaThe majority of atomic force microcode (AFM) probes work based on piezoelectric actuation. However, some undesirable phenomena such as creep and hysteresis may appear in the piezoelectric actuators that limit their applications. This paper proposes a novel AFM probe based on dielectric elastomer actuators (DEAs). The DE is modeled via the use of a hyperelastic Cosserat model. Size effects and geometric nonlinearity are included...
-
Differentiating between Inactive and Active States of Rhodopsin by Atomic Force Microscopy in Native Membranes
Publikacja -
Study of particle - bubble interaction using atomic force microscopy - current possibilities and challenges
PublikacjaBadania oddziaływań pomiędzy cząstkami mineralnymi i pęcherzykami powietrza są kluczowe do zrozumienia przebiegu flotacji. Wykorzystanie mikroskopii sił atomowych (AFM) i techniki próbnika koloidalnego umożliwia pomiar takich oddziaływań.
-
Photodegradation of lauric acid at an anatase single crystal surface studied by atomic force microscopy
PublikacjaBadania obejmowały obserwację zmian topografii powierzchni, za pomocą mikroskopii sił atomowych, cienkiej warstwy kwasu laurynowego osadzonego na monokrysztale anatazu. Warstwę kwasu laurynowego o grubości 80-90 nm naświetlano promieniowaniem z zakresu UV-Vis. Zauważono, że kwas laurynowy osadzany metodą wirującego dysku tworzy na powierzchni monokryształów TiO2 struktury domenowe. Stwierdzono, że podczas naświetlania nie ulega...
-
Atomic force microscopy technique for the surface characterization of sol–gel derived multi-component silica nanocomposites
Publikacja -
Sensing the onset of epoxy coating degradation with combined Raman spectroscopy/atomic force microscopy/electrochemical impedance spectroscopy
PublikacjaThe paper presents the results of investigation on epoxy resin durability upon 12-week exposure to UV radiation. The aim was early determination of the onset of epoxy degradation and for this purpose an epoxy film on steel substrate systems were periodically inspected using Raman spectroscopy, atomic force microscopy and electrochemical impedance spectroscopy. The behaviour of examined polymer could be divided into three periods: immunity,...
-
Determination of occurrence of anodic excursion peaks by dynamic electrochemical impedance spectroscopy, atomic force microscopy and cyclic voltammetry
PublikacjaStruktura oraz skład warstw anodowych na ołowiu najbardziej zależy od; dodatków stopowych, stężenia kwasu siarkowego oraz od zakresu potencjału. Zjawisko powstawania pików "anodic excursion peaks" od zawsze było w centrum uwagi wielu naukowców. W tej pracy zachowanie się powyższego zjawiska (AEP) zostało zbadane metodami dynamicznej elektrochemicznej spektrokopii impedancyjnej, mikroskopu sił atomowych oraz chronowoltamperometrii....
-
Atomic force microscopy based approach to local impedance measurements of grain interiors and grain boundaries of sensitized AISI 304 stainless steel
Publikacja -
Atomic force microscopy based approach to local impedance measurements of grain interiors and grain boundaries of sensitized AISI 304 stanless steel
PublikacjaPraca prezentuje wyniki badań uzyskane z pomiarów techniką lokalnej spektroskopii impedancyjnej (LIS) wykonanych w trybie kontaktowym mikroskopii sił atomowych (AFM), które zostały przeprowadzone w lokalnych obszarach powierzchni ziarna austenitu i na granicy ziarna austenitu wysokostopowej stali austenitycznej AISI 304 poddanej procesowi uczulania oraz na próbkach odniesienia nie poddanych obróbce cieplnej.Badania LIS-AFM były...
-
AFM (atomic force microscopy) images of borophene after sonication of boron
Dane BadawczeThese data include AFM (atomic force microscopy) images of borophene obtained after sonication in aceton of boron, collected in order to estimate lateral size of the nanoflakes.
-
AFM (Atomic Force Microscopy) analysis of surface topography loaded with nickel nanoparticles.
Dane BadawczeThis dataset presents AFM (Atomic Force Microscopy) images depicting the surface topography loaded with nickel powdered nanoparticles. The detailed equipment and measurement data was described in "AFM readme.txt" file
-
Atomic force microscopy images of copper electrical contacts wear under the influence of friction
Dane BadawczeMeasurement of wear of copper electrical contacts under the influence of friction. Imaging in contact mode in the variant of scanning spreading resistance microscopy. Additionally, there are spectroscopic current-voltage curves showing local changes in electrical conductivity. NTEGRA Prima (NT-MDT) device. Probe NSG 01Pt.
-
Surface characteristics of glass fibres covered with an aluminum layer after a chemical modification process using secondary ion mass spectrometry (SIMS) and atomic force microscopy (AFM)
PublikacjaPrzedstawiono wyniki z badań powierzchni modyfikowanych włókien szklanych (przed i po procesie chemicznej modyfikacji ich powierzchni), które są kandydatem na przyszły oryginalny bezmatrycowy materiał odniesienia lotnych analitów etenu (C2H4) metodami spektrometrii mas jonów wtórnych oraz mikroskopii sił atomowych. Badania miały na celu obserwację zmian oraz procesów, jakie zaszły na powierzchni włókien szklanych pokrytych...
-
AFM (atomic force microscopy) images of borophene flakes obtained during ball milling at different operating parameters
Dane BadawczeThis dataset contains atomic force microscopy (AFM) images of representative borophene flakes obtained during ball milling. The operational parameters of the ball-milling process included rotation speed (250, 450, and 650 rpm), time of ball-milling (1, 3, 6, and 12 h), and the mass loading of starting bulk boron (1, 2, 3 g).
-
Piezoresponse force microscopy and dielectric spectroscopy study of Ba0.6Sr0.4TiO3 thin films
PublikacjaResearch on synthesis, characterization and determination of processing – structure – property relationships of commercially important ferroelectric thin films has been performed. The sol-gel-type solution deposition technique was applied to produce good quality thin films of Ba0.6Sr0.4TiO3 (BST60/40) chemical composition on the stainless steel substrates. The thin films were characterized in terms of their microstructure, crystal...