Wyniki wyszukiwania dla: POMIARY OSTRZOWE

• Spektroskopia szumowa. Część I. System pomiarowy, badania struktur półprzewodnikowych.

  Publikacja

  • Z. Chobola
  • L. Hasse
  • J. Sikula
  • L. Spiralski

  - Rok 2004

  Opisano zakres szczegółowych badań sygnałów szumowych w spektroskopii. Przedstawiono system do pomiaru szumów i warunki pomiaru sygnałów szumowych. Podano jak zastosowanie analizy szumów małoczęstotliwościowych może stanowić narzędzie w wykrywaniu wad montażu przyrzadów półprzewodnikowych. Pomiary ostrzowe szumów struktur półprzewodnikowych stanowią jeden z elementów tej analizy.

• Techniques of interference reduction in probe system for wafer level noise measurements of submicron semiconductor devices.

  Publikacja

  • L. Spiralski
  • A. Szewczyk
  • L. Hasse

  - Rok 2004

  Przedstawiono skrótowo system do ostrzowych pomiarów szumów struktur submikronowych. Znaczny wpływ na pomiary ostrzowe mają zakłócenia i szumy własne systemu, zwłaszcza zakłócenia o wysokim poziomie wpraowadzane przez ostrza (fluktuacje rezystancji styków ostrza do struktury powodowane przez wibracje i udary mechaniczne w środowisku pomiarowym)i środowisko elektromagnetyczne. Zakłócenia okresowe powodowane przez wibracje i pola...