Wyszukiwarka
Filtry
wszystkich: 6
Wyniki wyszukiwania dla: POMIARY SPEKTRALNE
-
Photoelectric properties of WO3/tetracene hetrojunctions
PublikacjaPraca omawia własności fotowoltaiczne heterozłączy: WO3-tetracen. W pracy przedstawiono wyniki badań dwóch struktur planarnych: ITO/tetracen/Ag i ITO/WO3/tetracen/Ag. Badania obejmowały pomiary charakterystyk prądowo-napięciowych, zależności prądu zwarcia i napięcia rozwarcia od natężenia oświetlenia oraz spektralne charakterystyki prądu zwarcia.
-
Diagnostics of cvd process by means of optical emission spectroscopy.
PublikacjaZastosowano optyczną spektroskopię emisyjną do badania w trybie in-situ dysocjacji cząsteczek oraz wzbudzenia i jonizacji atomów wodoru podczas procesu syntezy cienkich warstw diamentowych metodą chemicznego osadzania z par gazowych wspomaganego plazmą mikrofalową (mPACVD). Zbudowano tor światłodowy, umożliwiający sprzężenie komory CVD z systemem spektroskopowym i wykonywanie pomiarów bezinwazyjnych. Wykonano pomiary spektralne...
-
Diagnostyka procesu CVD metodą optycznej spektroskopii emisyjnej. Diagnostics of CVD process by means of optical emission spectroscopy.
PublikacjaZastosowano optyczną spektroskopię emisyjną do badania w trybie in-situ dysocjacji cząsteczek oraz wzbudzenia i jonizacji atomów wodoru podczas procesu syntezy cienkich warstw diamentowych metodą chemicznego osadzania z par gazowych wspomaganego plazmą mikrofalową (mPACVD). Zbudowano tor światłowodowy, umożliwiający sprzężenie komory CVD z systemem spektroskopowym i wykonywanie pomiarów bezinwazyjnych. Wykonano pomiary spektralne...
-
Laboratorium Materiałów Optoelektronicznych Innowacyjnych Materiałów i Displejów – Centrum Zaawansowanych Technologii
LaboratoriaStanowisko do optycznych nieinwazyjnych badań właściwości i charakteryzacji materiałów i elementów pozwalające na optymalizację technologii ich wytwarzania i rozszerzenie domeny ich zastosowań z wykorzystaniem:; • optycznej tomografii koherentnej – jest to metoda umożliwiająca nieinwazyjne badania cienkich warstw i elementów,; • spektroradiometrii – jest to metoda umożliwiająca badania właściwości displejów, źródeł światła i elementów...
-
Spektrometr fourierowski z pryzmatem Nomarskiego.
PublikacjaW pracy omówiono zasadę działania i stosowane realizacje spektrometru fourierowskiego. Zaprezentowano wyniki modelowania optycznej części spektrometru wykorzystującego pryzmat Nomarskiego. Omówiono wyniki pomiarów widma diod elektroluminescencyjnych wykonane przy pomocy zrealizowanego prototypu.
-
Bezkontaktowe, wielopasmowe pomiary emisyjności
PublikacjaW pracy zaproponowano i opisano wielopasmową pasywną metodę do pomiaru emisyjności obiektu. Omówiono inne metody pomiaru emisyjności oraz przeprowadzono analizę systemu wielopasmowego. Wyniki modelowania umożliwiają ocenę dokładności projektowanego systemu.