Wyszukiwarka
Filtry
wszystkich: 3
Wyniki wyszukiwania dla: SZUMY: STRUKTURA
-
Fluctuation phenomena in semiconductor gas sensors
PublikacjaCzujniki gazu mogą być wytwarzane z cienkiej warstwy półprzewodnika, która po podgrzaniu do odpowiedniej temperatury staje się czuła na gaz. Zjawisko to jest dobrze znane i szeroko opisane w literaturze. Jako wskaźnik detekcji gazu wykorzystuje się zmianę rezystancji stałoprądowej czujnika. Zwiększenie czułości i, co najważniejsze z praktycznego punktu widzenia, selektywności dyskryminacji można uzyskać jeśli warstwa półprzewodnika...
-
Techniques of interference reduction in probe system for wafer level noise measurements of submicron semiconductor devices.
PublikacjaPrzedstawiono skrótowo system do ostrzowych pomiarów szumów struktur submikronowych. Znaczny wpływ na pomiary ostrzowe mają zakłócenia i szumy własne systemu, zwłaszcza zakłócenia o wysokim poziomie wpraowadzane przez ostrza (fluktuacje rezystancji styków ostrza do struktury powodowane przez wibracje i udary mechaniczne w środowisku pomiarowym)i środowisko elektromagnetyczne. Zakłócenia okresowe powodowane przez wibracje i pola...
-
A method of two-terminal excess noise measurement with a reduction of measurement system and contact noise
PublikacjaPrzedstawiono metodę i system do pomiaru szumów nadmiarowych dwójników elektrycznych ze znaczną redukcją wpływu szumów własnych systemu pomiarowego i szumów kontaków. Proponowana metoda może byc zastosowana do pomiaru szumów elementów z wyprowadzonymi końcówkami, bądź też struktur, gdy jako wzorcowy szum odniesienia może zostać zastosowany szum struktury rezystywnej wytworzonej bezpośrednio na strukturze w otoczeniu elementu testowanego.