Wyszukiwarka
Wyniki wyszukiwania dla: elipsometria%20spektroskopowa
-
Elipsometric data analysis used in on-line metal passivation monitoring
PublikacjaWykorzystano technikę elipsometrii monochromatycznej do opisu on-line warstw tlenkowych, elektroosadzanych na miedzi. Elipsometria jest w stanie dostarczyć informacji odnośnie grubości i współczynników załamania światła układów warstwowych, jednakże wymagane w tym celu jest zbudowanie matematycznego modelu odwzorowującego stałe optyczne układu badanego. W powyższej pracy przedyskutowane zostały różne metody dopasowywania modelu...
-
Ellipsometric data analysis used in on-line metal passivation monitoring
Publikacja -
Ellipsometric study of oxide formation on Cu electrode in 0.1 M NaOH
Publikacja -
Ellipsometric study of carbon nitride films deposited by DC-magnetron sputtering
Publikacja -
Ellipsometric study of carbon nitride films deposited by DC-magnetron sputtering
PublikacjaWe report the optical properties of a carbon nitride (CNx) film as a function of nitrogen concentration (N/C) of the deposited film. As nitrogen concentration is increased (N/C ratio) in a CNx film, the refractive index and band gap also increase. The real and imaginary parts, n and k (refractive index and extinction coefficient) of the complex refraction index of carbon nitride films were determined by spectroscopic ellipsometry...
-
A review of applications of ellipsometry in corrosion research
PublikacjaElipsometria jest to nieinwazyjna i bardzo dokładna technika pomiarowa znajdująca coraz więcej zastosowań w badaniach korozyjnych. Poglądowo przedstawiono aktualne zastosowania pomiarów elipsometrycznych. Przeglądu dokonano pod kątem przydatności elipsometrii do wyznaczania grubości oraz charakterystyki optycznej cienkich warstewek pasywnych pokrywających powierzchnię różnych metali. Opisano zastosowanie pomiarów elipsometrycznych...
-
Zastosowania pomiarów elipsometrycznych w badaniach korozyjnych
PublikacjaElipsometria jest to nieinwazyjna i bardzo dokładna technika pomiarowa znajdująca coraz więcej zastosowań w badaniach korozyjnych. Poglądowo przedstawiono aktualne zastosowania pomiarów elipsometrycznych. Przeglądu dokonano pod kątem przydatności elipsometrii do wyznaczania grubości oraz charakterystyki optycznej cienkich warstewek pasywnych pokrywających powierzchnię różnych metali. Opisano zastosowanie pomiarów elipsometrycznych...
-
Ellipsometric investigation of nitrogen doped diamond thin films grown in microwave CH4/H2/N2 plasma enhanced chemical vapor deposition
PublikacjaThe influence of N2 concentration (1%–8%) in CH4/H2/N2 plasma on structure and optical properties of nitrogen doped diamond (NDD) films was investigated. Thickness, roughness, and optical properties of the NDD films in the VIS–NIR range were investigated on the silicon substrates using spectroscopic ellipsometry. The samples exhibited relatively high refractive index (2.6 6 0.25 at 550 nm) and extinction coefficient (0.05 6 0.02...
-
Ellipsometric monitoring during the polarization studies of Mg corrosion in alkaline environment
Dane BadawczeThe dataset contains the ellipsometric results from the Mg polarization studies aiming at understanding the Mg(OH)2 passive layer formation mechanism and conditions. The single-wavelength ellipsometer ELX-02C from Dr Riss GmbH was utilized, operating He-Ne laser at 632.8 nm. The polarization conditions for the experiment are depicted in the related...
-
Justyna Kucińska-Lipka dr hab. inż.
Osoby -
Katedra Technologii Zabezpieczeń Przeciwkorozyjnych, działalność badawcza
PublikacjaW Katedrze Technologii Zabezpieczeń Przeciwkorozyjnych realizowane są różnorodne badania naukowe z zakresu korozji, ochrony przed korozją, inżynierii materiałowej i elektrochemii. Rozwijane są cyfrowe pomiary impedancyjne procesów elektrodowych, pomiary składowych harmonicznych oraz szumu elektrochemicznego. Rozwijane są metody badań impedancyjnych prowadzone w warunkach nieustalonych. W tym celu stosowane są metody łączne czasowo...
-
Ellipsometry study of oxide formation on Cu electrode in 0.1 M NaOH
PublikacjaPrzedstawiono przykład zastosowania techniki elipsometrii monochromatycznej w celu określenia dynamiki wzrostu warstw tlenkowych i wodorotlenkowych na miedzi w środowisku 0.1M NaOH. Badania te stanowią część projektu skupiającego się na oznaczeniu fizycznych i elektrycznych własności tlenku miedzi (I) oraz tlenku miedzi (II) podczas procesu formowania się warstwy. Jednoczesne pomiary elipsometryczne i impedancyjne są nowatorskie...
-
Polarization-dependent optical absorption in phosphorene flakes
PublikacjaThe interest of 2D materials is constantly increasing because of their very attractive mechanical, electrical and optical parameters. They have been used in many applications, e.g. photodetectors, sensors, modulators, insulators. One of the recently discovered 2D materials is phosphorene. In contrast to graphene, phosphorene has a direct bandgap tuned by numbers of layers in the 2D structure. The phosphorene flakes are strongly...
-
Thickness and structure change of titanium (IV) oxide thin films synthesized by the sol–gel spin coating method
PublikacjaTitanium dioxide is a well-known material in nanotechnology, while it provides new opportunities due to its interesting properties, for example, as a semiconductor with a quite significant forbidden band gap energy of 3.2 eV. In this study, thin films of titanium dioxide (TiO2) were synthesized in amorphous and crystallographic systems using the sol–gel process. Atomic Force Microscopy (AFM), Raman spectroscopy and X-ray diffraction...
-
Barbara Becker prof. dr hab. inż.
Osoby -
Zastosowanie czasowo-częstotliwościowej analizy sygnałów dla poprawy właściwości metrologicznych systemów optycznej tomografii koherentnej
PublikacjaOptyczna tomografia koherentna (OCT) jest metodą obrazowania wewnętrznej struktury obiektów rozpraszających promieniowanie optyczne. Metoda ta wykorzystuje interferometrię niskokoherentą do pomiaru czasu przelotu promieniowania wstecznie rozproszonego od elementów struktury obrazowanego obiektu z rozdzielczością w zakresie od jednego do kilkunastu mikrometrów. Rozprawa dotyczy dwóch rozszerzeń metody OCT. Pierwsze z nich – polaryzacyjna...
-
Characterization of Optical and Electrical Properties of Transparent Conductive Boron-Doped Diamond thin Films Grown on Fused Silica
PublikacjaA conductive boron-doped diamond (BDD) grown on a fused silica/quartz has been investigated. Diamond thin films were deposited by the microwave plasma enhanced chemical vapor deposition (MW PECVD). The main parameters of the BDD synthesis, i.e. the methane admixture and the substrate temperature were investigated in detail. Preliminary studies of optical properties were performed to qualify an optimal CVD synthesis and film parameters...
-
Paweł Możejko dr hab.
Osoby