Katedra Metrologii i Optoelektroniki - Jednostki Administracyjne - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Katedra Metrologii i Optoelektroniki

Filtry

wszystkich: 750

  • Kategoria
  • Rok
  • Opcje

wyczyść Filtry wybranego katalogu niedostępne

Katalog Publikacji

Rok 2023
Rok 2018
  • 1D portable optical coherence tomography system

    —Imaging methods are an expanding branch of technology, which involves data acquisition and analysis of images for research and diagnostics. This paper has been devoted to the description of the optical design for a one-dimensional, portable optical coherence tomography (OCT) system. The Mach-Zehnder interferometer has been designed in the presented study. The description of the construction and applied hardware solutions have...

    Pełny tekst do pobrania w portalu

  • A random signal generation method for microcontrollers with DACs

    A new method of noise generation based on software implementation of a 7-bit LFSR based on a common polynomial PRBS7 using microcontrollers equipped with internal ADCs and DACs and a microcontroller noise generator structure are proposed in the paper. Two software applications implementing the method: written in ANSI C and based on the LUT technique and written in AVR Assembler are also proposed. In the method the ADC results are...

    Pełny tekst do pobrania w portalu

Rok 2019
Rok 2017
Rok 2012
Rok 2016
Rok 2022
Rok 2013
Rok 2020
Rok 2021
Rok 2015
  • A method of self-testing of analog circuits based on fully differential op-amps with theTCBF classifier
    Publikacja

    - Rok 2015

    A new approach of self-testing of analog circuits based on fully differential op-amps of mixed-signal systems controlled by microcontrollers is presented. It consists of a measurement procedure and a fault diagnosis procedure. We measure voltage samples of a time response of a tested circuit on a stimulation of a unit step function given at the common-mode reference voltage input of the op-amp. The fault detection and fault localization...

    Pełny tekst do pobrania w serwisie zewnętrznym

Rok 2003
  • A metrological analysis of the input circuit of an impedance meter.
    Publikacja

    W pracy przeprowadzono analizę obwodu wejściowego miernika impedancji W analizie obwodu wejściowego, uwzględniono najważniejsze czynniki wpływające na sygnały na jego wejściu: parametry zmiennoprądowe zastosowanych wzmacniaczy, rezystancję zakresową przetwornika prąd-napięcie, pojemności montażowe. Przeprowadzono symulację sygnałów wydzielanych w obwodzie dla różnych wartości pojemności pasożytniczych, następnie dokonano badań...