Katedra Optoelektroniki - Jednostki Administracyjne - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Katedra Optoelektroniki

Filtry

wszystkich: 1

  • Kategoria
  • Rok

Katalog Publikacji

2005
  • A neural network based system for soft fault diagnosis in electronic circuits
    Publikacja

    W artykule przedstawiono system do diagnostyki uszkodzeń parametrycznych w układach elektronicznych. W systemie zaimplementowano słownikową metodę lokalizacji uszkodzeń, bazującą na pomiarach w dziedzinie częstotliwości przeprowadzanych za pomocą analizatora transmitancji HP4192A. Rozważono główne etapy projektowania systemu: definiowanie modelu uszkodzeń, wybór optymalnych częstotliwosci pomiarowych, ekstrakcję cech diagnostycznych,...