Search results for: WIDMA DLTS

• Low frequency noise and DLTS as silicon solar cell characterization tools

  Publication

  • Z. Chobola
  • Z. Ruzicka
  • L. Hasse

  - Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania - Year 2002

  Praca zawiera wyniki pomiarów DLTS próbek o powierzchni 1 mm2 krzemowych baterii słonecznych wykazujących znaczne niejednorodności wykryte za pomocą metody LBIV (Light Beam Induced Voltage). Wyniki pomiarów charakterystyk stałoprądowych oraz szumowych tych próbek zostały także przedstawione.