Search results for: MIKROSKOPIA TUNELOWA AFM/STM

• Nanostructure characterization of (SmS)1.19TaS2 by means of STM/STS

  Publication

  • S. Winiarz
  • T. Klimczuk
  • R. J. Cava
  • R. Czajka

  - JOURNAL OF CRYSTAL GROWTH - Year 2006

  W publikacji przedstawiono badania za pomocą techniki STM i STS powierzchni kryształów warstwowego związki typu misfit(SmS)1.19TaS2. Badania pozwalają sądzić, że powierzchniową warstwą jest warstwa Sm-S.

• Skaningowa impedancyjna mikroskopia sił atomowych

  Publication

  • K. Darowicki
  • A. Zieliński

  - Ochrona przed Korozją - Year 2007

  W pracy przedstawiono nowatorskie podejście do analizy impedancyjnej sprzężonej z mikroskopią sił atomowych. Stosowane współcześnie metody pomiaru impedancyjnego w kontaktowym trybie AFM opierają się na punktowym pomiarze zmiennoprądowym z wykorzystaniem sekwencyjnego, sinusoidalnego pobudzania badanego obiektu. Autorzy proponują wykorzystanie techniki dynamicznej, co umożliwia uzyskiwanie widm impedancyjnych w warunkach ciągłego...

• The study of harmonic imaging by AFM = Badania harmonicznych w obrazowaniu AFM

  Publication

  • S. Babicz-Kiewlicz

  - Measurement Automation Monitoring - Year 2011

  Full text to download in external service

• Self-healing ATM networks based on preplanned restoration of virtual paths

  Publication

  • W. Molisz

  - SYSTEMS SCIENCE - Year 2003

  W pracy omówiono klasyfikację metod odtwarzania usług w samonaprawialnych sieciach ATM opartych na ścieżkach wirtualnych i o topologii kratkowej. Przedstawiono model z zaplanowanymi z góry ścieżkami zabezpieczającymi i wyniki badań przykładowej sieci w Polsce.

• Sylwester Kaczmarek dr hab. inż.

  People

  Department of Teleinformation Networks

  Sylwester Kaczmarek received his M.Sc in electronics engineering, Ph.D. and D.Sc. in switching and teletraffic science from the Gdansk University of Technology, Gdansk, Poland, in 1972, 1981 and 1994, respectively. His research interests include: IP QoS and GMPLS and SDN networks, switching, QoS routing, teletraffic, multimedia services and quality of services. Currently, his research is focused on developing and applicability...

• Simulation and measurements for the substance identification by AFM

  Publication

  • S. Babicz-Kiewlicz
  • A. Zieliński

  - Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej - Year 2011

  Full text available to download

• AFM-assisted investigation of conformal coatings in electronics

  Publication

  • M. Szociński

  - ANTI-CORROSION METHODS AND MATERIALS - Year 2016

  Purpose – This paper aims to presents a new method of investigation of local properties of conformal coatings utilized in microelectronics. Design/methodology/approach – It is based on atomic force microscopy (AFM) technique supplemented with the ability of local electrical measurements, which apart from topography acquisition allows recording of local impedance spectra, impedance imaging and dc current mapping. Potentialities...

  Full text to download in external service

• Morphology of polyurethanes revisited by complementary AFM and TEM

  Publication

  • E. Tocha
  • H. Janik
  • M. Dębowski
  • G. J. Vancso

  - Journal of Macromolecular Science Part B-Physics - Year 2002

  Przedmiotem badań mikroskopowych TEM i AFM były lane segmentowe poliuretany o zawartości 30 i 50% segmentu sztywnego. Stwierdzono obecność sferolitów (poziom mikrometrów), fibryl i globul. Ponadto zastosowanie AFM pozwoliło na zbadanie nanomorfologii badanych poliuretanów. Zaobserwowano krótkie, cylindropodobne domeny segmentów sztywnych rozproszone w matrycy segmentów giętkich.

• Demodulacja AM-FM dyskretnych sygnałów świergotowych

  Publication

  • M. Rojewski
  • R. Orlikowski

  - Year 2005

  W pracy zaprezentowano dwa nowe krótkie (4-punktowe) estymatory amplitudy chwilowej rzeczywistych sygnałów świergotowych (ang. chirp) współpracujące z 4-punktowym estymatorem pulsacji chwilowej MODCOV4p. W ten sposób otrzymano dwa demodulatory AM-FM o stosunkowo dużej dokładności obu estymat i o zakresie dynamicznym AM i FM wystarczająco szerokim do większości praktycznych zastosowań.

• Zastosowanie skaningowej mikroskopii elektronowej w analizie uszkodzeń

  Publication

  • J. Dampc

  - Year 2005

  W pracy przedstawiono przegląd badań z dziedziny analizy uszkodzeń z wykorzystaniem skaningowej mikroskopii elektronowej, opublikowanych w Metallurgical and Materials Transactions w celu przedstawienia możliwości badawczych mikroskopu oraz ukazanie tendencji w prowadzonych badaniach w okresie sześciu ostatnich lat ubiegłego wieku. Przedstawiono badania wpływu mikrostruktury na mechanizmy niszczenia w warunkach statycznego, dynamicznego...