Nonlinear and fluctuation phenomena as reliability predictors for foil capacitors - Publication - Bridge of Knowledge

Search

Nonlinear and fluctuation phenomena as reliability predictors for foil capacitors

Abstract

W trakcie procesu produkcyjnego kondensatorów przeciwzakłóceniowych wymagane jest przeprowadzenie testów jakości i trwałości. Do tego celu bardzo przydatna byłaby procedura szybkich testów nieniszczących. Rozwiązaniem problemu może być implementacja w systemie realizującym testy produkcyjne dodatkowych zadań związanych z bezpośrednimi pomiarami nieliniowości i/lub fluktuacji. Wybór wskaźnika trzeciej harmonicznej (THI), parametru szumowego (metody i warunków przeprowadzania jego pomiaru) oraz reguł klasyfikacji wszystkich testowanych kondensatorów na grupy o zróżnicowanej niezawodności stwarza możliwość predykcji niezawodności indywidualnie dla każdego testowanego elementu. Przeanalizowano nieliniowości i właściwości szumowe kondensatora w celu ustalenia kryteriów selekcji kondensatorów przeciwzakłóceniowych na grupy o zróżnicowanej trwałości i niezawodności podczas testów produkcyjnych. W przypadku kondensatorów polistyrenowych wymagana jest najwyższa stabilność a pomiar THI zapewnia weryfikację tego wymagania. Kształt funkcji gęstości rozkładu parametru THI jest bardzo istotny jako podstawa przy ustalaniu kryterium klasyfikacji kondensatorów na grupy o zróżnicowanej trwałości. Analiza uzyskanych wyników potwierdziła relację, że ze wzrostem wartości pojemności kondensatora, średnia wartość funkcji rozkładu THI (dla danej technologii wytwarzania elementu) również wzrasta.Przedstawione zostały wybrane wyniki eksperymentalne dla tych kondensatorów.

Cite as

Full text

full text is not available in portal

Keywords

Details

Category:
Articles
Type:
artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
Published in:
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania no. R. 47, pages 45 - 48,
ISSN: 0033-2089
Language:
English
Publication year:
2006
Bibliographic description:
Hasse L., Turczyński J., Spiralski L.: Nonlinear and fluctuation phenomena as reliability predictors for foil capacitors// Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania. -Vol. R. 47., nr. nr. 1 (2006), s.45-48
Verified by:
Gdańsk University of Technology

seen 54 times

Recommended for you

Meta Tags