Nowe struktury korygowanych laserem rezystorów warstwowych zapewniające poprawę dokładności strojenia i stabilność.
Abstract
W pracy przedstawiono i przeanalizowano nowe struktury typu ''kapelusza'' i ''U'' ze zwora przewodzącą zapewniające poprawę dokładności strojenia i wzrost stabilności rezystorów dzięki eliminacji tzw. ''gorących punktów'' występujących na końcu cięcia laserowego.
Author (1)
Cite as
Full text
full text is not available in portal
Keywords
Details
- Category:
- Articles
- Type:
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Language:
- Polish
- Publication year:
- 2004
- Bibliographic description:
- Wroński M.: Nowe struktury korygowanych laserem rezystorów warstwowych zapewniające poprawę dokładności strojenia i stabilność.// . -., (2004), s.0-0
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 57 times
Recommended for you
Chapter 8. New composite materials for electrochemical capacitors
- M. Wilamowska-Zawłocka,
- A. Lisowska-Oleksiak,
- K. Szybowska
- + 1 authors
2008