Abstract
Przedstawiono wyniki pomiarów parametrów statycznych 3 prób diod Schottky'ego produkcji CREE i 2 prób diod Schottky'ego produkcji INFINEON. Stwierdzono, że charakterystyki przy polaryzacji diod w kierunku przewodzenia są w zasadzie identyczne, natomiast przy polaryzacji w kierunku zaporowym wykazują istotne różnice, szczególnie w zakresie napięć w kierunku zaporowym powyżej 600 V
Authors (3)
Cite as
Full text
full text is not available in portal
Keywords
Details
- Category:
- Articles
- Type:
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Published in:
-
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
pages 13 - 15,
ISSN: 0033-2089 - Language:
- Polish
- Publication year:
- 2009
- Bibliographic description:
- Szewczyk A., Konczakowska A., Stawarz-Graczyk B.: Ocena parametrów statycznych diod Schottky'ego z SiC// Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania. -., (2009), s.13-15
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 90 times
Recommended for you
Power devices in Polish National Silicon Carbide Program
- A. Kubiak,
- M. Sochacki,
- Z. Lisik
- + 3 authors
2009