Search
Abstract
Zaprezentowano system optycznej tomografii koherentnej z analizą stanu polaryzacji światła. System umożliwia nieniszczące i bezkontaktowe badanie wewnętrznej struktury materiałów warstwowych. Przedstawiono zastosowaną metodę analizy stanu polaryzacji promieniowana wstecznie rozproszonego od badanego obiektu.
Authors (6)
Cite as
Full text
full text is not available in portal
Keywords
Details
- Category:
- Articles
- Type:
- artykuł w czasopiśmie z listy filadelfijskiej
- Published in:
-
SENSORS AND ACTUATORS A-PHYSICAL
no. A 142,
pages 104 - 110,
ISSN: 0924-4247 - Language:
- English
- Publication year:
- 2008
- Bibliographic description:
- Strąkowski M., Pluciński J., Jędrzejewska-Szczerska M., Hypszer R., Maciejewski M., Kosmowski B.: Polarization sensitive optical coherence tomography for technical materials investigation// SENSORS AND ACTUATORS A-PHYSICAL. -Vol. A 142., (2008), s.104-110
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 142 times