Abstract
W publikacji podano wyniki badań metodą anihilacji pozytronów szkieł bizmutowo-krzemianowych, bizmutowo-germanianowych i ołowiowo-krzemianowych. Stwierdzono istnienie defektów wywołanych redukcją w atmosferze wodoru. Przeprowadzono analizę głębokości występowania defektów oraz ich rozmiarów.
Authors (7)
Cite as
Full text
full text is not available in portal
Keywords
Details
- Category:
- Articles
- Type:
- artykuł w czasopiśmie z listy filadelfijskiej
- Language:
- English
- Publication year:
- 2004
- Bibliographic description:
- Pliszka D., Kusz B., Gazda M., Trzebiatowski K., Karwasz G., Brusa R., Zecca A.: Positron-annihilation monitoring of reduction processes in conducting glasses.// . -., (2004), s.0-0
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 100 times
Recommended for you
Application of dynamic impedance spectroscopy to atomic force microscopy
- K. Darowicki,
- A. Zieliński,
- J. K. Kurzydłowski
2008