Search
Abstract
Przedstawiono potencjał aplikacyjny spektroskopii Ramana w diagnostyce procesu technologicznego wytwarzania cienkowarstwowych struktur perowskitowych o strukturze Ba(Ti1 xZrx)O3, posiadających możliwość strojenia przenikalności elektrycznej za pomocą pola elektrycznego. Skonfigurowano systemy pomiarowe do badania zarówno próbek objętościowych, jak i struktur cienkowarstwowych. Zidentyfikowano najistotniejsze linie w widmach ramanowskich, umożliwiające badania procesu podstawiania Ti przez jony Zr i stwierdzono, że linia 115 cm-1 może służyć jako wskaźnik efektywności procesu syntezy.
Author (1)
Cite as
Full text
full text is not available in portal
Keywords
Details
- Category:
- Conference activity
- Type:
- publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
- Language:
- English
- Publication year:
- 2004
- Bibliographic description:
- Gnyba M.: Raman studies of ferroelectric ceramics.// / : , 2004,
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 62 times
Recommended for you
Mobility measurements in oxide semiconductors
- E. Prociów,
- M. S. Łapiński,
- J. Domaradzki
- + 3 authors
2009
Optical monitoring of thin oil film thickness in extrusion processes
- R. Bogdanowicz,
- P. Wroczyński,
- J. Graczyk
- + 1 authors
2005