Spektroskopia szumowa. Część I. System pomiarowy, badania struktur półprzewodnikowych.

Zdenek Chobola; Lech Hasse; Josef Sikula; Ludwik Spiralski

Spektroskopia szumowa. Część I. System pomiarowy, badania struktur półprzewodnikowych.

Abstract

Opisano zakres szczegółowych badań sygnałów szumowych w spektroskopii. Przedstawiono system do pomiaru szumów i warunki pomiaru sygnałów szumowych. Podano jak zastosowanie analizy szumów małoczęstotliwościowych może stanowić narzędzie w wykrywaniu wad montażu przyrzadów półprzewodnikowych. Pomiary ostrzowe szumów struktur półprzewodnikowych stanowią jeden z elementów tej analizy.

Authors (4)

Zdenek Chobola
- Faculty of Electronics, Telecommunications and Informatics
- Gdańsk University of Technology
Lech Hasse dr inż.
- Faculty of Electronics, Telecommunications and Informatics
- Gdańsk University of Technology
Josef Sikula
- Faculty of Electronics, Telecommunications and Informatics
- Gdańsk University of Technology
Ludwik Spiralski prof. zw. dr hab. inż.
- Faculty of Electronics, Telecommunications and Informatics
- Gdańsk University of Technology

Cite as

Full text

full text is not available in portal

Keywords

Details

Category:: Articles
Type:: artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
Language:: Polish
Publication year:: 2004
Bibliographic description:: Chobola Z., Hasse L., Sikula J., Spiralski L.: Spektroskopia szumowa. Część I. System pomiarowy, badania struktur półprzewodnikowych.// . -., (2004), s.0-0
Verified by:: Gdańsk University of Technology