Sposób sterowania systemem do pomiarów struktur elementów półprzewodnikowych - Publication - Bridge of Knowledge

Search

Sposób sterowania systemem do pomiarów struktur elementów półprzewodnikowych

Abstract

Przedstawiono system do pomiarów mało-częstotliwościowych szumów struktur elementów półprzewodnikowych. Szczegółowo omówiono zaprojektowane i wykonane oprogramowanie sterujące systemem pomiarowym.

Cite as

Full text

full text is not available in portal

Keywords

Details

Category:
Conference activity
Type:
publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
Title of issue:
II Krajowa Konferencja Elektroniki. KKE´2003.T. 2/2 strony 549 - 553
Language:
Polish
Publication year:
2003
Bibliographic description:
Szewczyk A.: Sposób sterowania systemem do pomiarów struktur elementów półprzewodnikowych// II Krajowa Konferencja Elektroniki. KKE´2003.T. 2/2/ ed. W.Janke, M. Bączek, R. Łuczak, P. Łuczak. Koszalin: P. Koszal., 2003, s.549-553
Verified by:
Gdańsk University of Technology

seen 60 times

Recommended for you

Meta Tags