System laboratoryjny do identyfikacji uszkodzeń parametrycznych analogowych układów elektronicznych - Publication - Bridge of Knowledge

Search

System laboratoryjny do identyfikacji uszkodzeń parametrycznych analogowych układów elektronicznych

Abstract

Przedmiotem artykułu jest komputerowy system laboratoryjny do testowania parametrów funkcjonalnych analogowych układów elektronicznych w dziedzinie czasu. W systemie wykorzystano dwa generatory 33120A oraz multimetr 34401A dołączone do komputera za pośrednictwem interfejsu RS232. Oprogramowanie sterujące pracą systemu zrealizowano w środowisku Matlab. W systemie zaimplementowano metodę testowania polegającą na pobudzaniu układu odcinkowo-liniowym sygnałem pomiarowym zoptymalizowanym za pomocą algorytmu genetycznego, rejestracji odpowiedzi za pośrednictwem multimetru oraz estymacji wartości parametrów funkcjonalnych z wykorzystaniem sztucznej sieci neuronowej.

Cite as

Full text

full text is not available in portal

Keywords

Details

Category:
Conference activity
Type:
publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
Language:
Polish
Publication year:
2005
Bibliographic description:
Kowalewski M.: System laboratoryjny do identyfikacji uszkodzeń parametrycznych analogowych układów elektronicznych// / : , 2005,
Verified by:
Gdańsk University of Technology

seen 80 times

Recommended for you

Meta Tags