Search
Abstract
Przedmiotem artykułu jest komputerowy system laboratoryjny do testowania parametrów funkcjonalnych analogowych układów elektronicznych w dziedzinie czasu. W systemie wykorzystano dwa generatory 33120A oraz multimetr 34401A dołączone do komputera za pośrednictwem interfejsu RS232. Oprogramowanie sterujące pracą systemu zrealizowano w środowisku Matlab. W systemie zaimplementowano metodę testowania polegającą na pobudzaniu układu odcinkowo-liniowym sygnałem pomiarowym zoptymalizowanym za pomocą algorytmu genetycznego, rejestracji odpowiedzi za pośrednictwem multimetru oraz estymacji wartości parametrów funkcjonalnych z wykorzystaniem sztucznej sieci neuronowej.
Cite as
Full text
full text is not available in portal
Keywords
Details
- Category:
- Conference activity
- Type:
- publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
- Language:
- Polish
- Publication year:
- 2005
- Bibliographic description:
- Kowalewski M.: System laboratoryjny do identyfikacji uszkodzeń parametrycznych analogowych układów elektronicznych// / : , 2005,
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 83 times