Search
Abstract
Przedstawiono opracowaną w grudniu 2009 r. cyfrową magistralę testującą IEEE 1149.7 przeznaczoną do testowania i debuggingu wielordzeniowych układów wbudowanych. W stosunku do magistrali IEEE1149.1, której jest rozszerzeniem, magistrala IEEE1149.7 zapewnia zredukowaną do dwóch liczbę wyprowadzeń, możliwość pracy w konfiguracji gwiazdowej, indywidualne adresowanie urządzeń, eliminację ze ścieżki brzegowej nieaktywnych układów, zarządzanie zasilaniem oraz rozszerzone możliwości debugingu oprogramowania układów mikroprocesorowych.
Cite as
Full text
download paper
downloaded 18 times
- Publication version
- Accepted or Published Version
- License
-
open in new tab
Keywords
Details
- Category:
- Articles
- Type:
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Published in:
-
Measurement Automation Monitoring
no. 57,
pages 1372 - 1375,
ISSN: 2450-2855 - Language:
- Polish
- Publication year:
- 2011
- Bibliographic description:
- Bartosiński B.: Testowanie układów cyfrowych z wykorzystaniem magistrali IEEE 1149.7// Pomiary Automatyka Kontrola. -Vol. 57., nr. nr 11 (2011), s.1372-1375
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 126 times