Search
Abstract
Zaproponowano dwie szybkie metody wyznaczania probabilistycznych miar jakości testu na etapie projektowania, opracowane pod kątem zastosowań w testowaniu analogowych układów elektronicznych. Pierwsza analityczna metoda bazuje na dwóch modelach probabilistycznych - modelu pomiaru oraz modelu odpowiedzi układu testowanego na pobudzenie sygnałem testującym. Druga jest metodą Monte Carlo wydatnie przyspieszoną poprzez zastąpienie procesu wielokrotnej symulacji układu testowanego z użyciem modelu o losowych wartościach parametrów, generatorem liczb pseudolosowych o rozkładzie prawdopodobieństwa zgodnym z rozkładem odpowiedzi układu testowanego. Parametry statystyczne rozkładu odpowiedzi układu testowanego uzyskuje się rozwijając funkcję układową w szereg Taylora z uwzględnieniem tylko wyrazów liniowych. Praca zawiera przykład wyznaczenia straty uzysku spowodowanej niepewnością progu komparatora.
Cite as
Full text
full text is not available in portal
Keywords
Details
- Category:
- Conference activity
- Type:
- publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
- Title of issue:
- Proceedings of 13th National and 4th International Scientific conference, Metrology in Production Engineering, Żerków 23-25 september 2009 = Metrologia w Technikach Wytwarzania, Żerków 23-25 września 2009 strony 481 - 486
- Language:
- Polish
- Publication year:
- 2009
- Bibliographic description:
- Toczek W.: Zastosowanie probabilistycznego modelu pomiaru do wyznaczania miar jakości testu// Proceedings of 13th National and 4th International Scientific conference, Metrology in Production Engineering, Żerków 23-25 september 2009 = Metrologia w Technikach Wytwarzania, Żerków 23-25 września 2009/ ed. Division of Metrology and Measurement Systems, Institute of Mechanical Technology, Poznan University of Technology. Poznań: Politechnika Poznańska, 2009, s.481-486
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 64 times