Zespół Metrologii i Optoelektroniki - Research Team - Bridge of Knowledge

Search

Business contact

Centrum Transferu Wiedzy i Technologii
Location
Al. Zwycięstwa 27, 80-219 Gdańsk
Phone
+48 58 348 62 62
E-mail
biznes@pg.edu.pl

Team

Photo of prof. dr hab. inż. Janusz Smulko

Janusz Smulko

prof. dr hab. inż. Leader
Photo of dr hab. inż. Robert Bogdanowicz

Robert Bogdanowicz

dr hab. inż.
Photo of dr hab. inż. Zbigniew Czaja

Zbigniew Czaja

dr hab. inż.
Photo of dr inż. Mateusz Ficek

Mateusz Ficek

dr inż.
Photo of dr inż. Stanisław Galla

Stanisław Galla

dr inż.
Photo of dr hab. inż. Marcin Gnyba

Marcin Gnyba

dr hab. inż.
Photo of mgr inż. Maciej Kraszewski

Maciej Kraszewski

mgr inż.
Photo of dr hab. inż. Grzegorz Lentka

Grzegorz Lentka

dr hab. inż.
Photo of dr inż. Adam Mazikowski

Adam Mazikowski

dr inż.
Photo of dr hab. inż. Jerzy Pluciński

Jerzy Pluciński

dr hab. inż.
Photo of dr hab. inż. Jerzy Pluciński

Jerzy Pluciński

dr hab. inż.
Photo of dr hab. inż. Małgorzata Szczerska

Małgorzata Szczerska

dr hab. inż.
Photo of dr hab. inż. Wojciech Toczek

Wojciech Toczek

dr hab. inż.
Photo of dr hab. inż. Paweł Wierzba

Paweł Wierzba

dr hab. inż.
Photo of dr inż. Maciej Wróbel

Maciej Wróbel

dr inż.

Research topics

  • komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka
  • projektowanie systemów
  • mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych
  • testowanie i diagnostyka elektroniczna
  • pomiary właściwości szumowych i zakłóceń
  • spektroskopia impedancyjna
  • telemetria i telediagnostyka internetowa
  • katedra redaguje Metrology and Measurement Systems
  • kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR

Research methods

  • zastosowanie optoelektronicznych metod pomiarowych w nauce, technice, medycynie, ekologii
  • modelowanie i konstrukcje sensorów światłowodowych
  • badania obiektów fizycznych nieinwazyjnymi metodami optycznymi (OCT)
  • badania w zakresie systemów wizualizacji informacji oraz systemów rzeczywistości wirtualnej
  • inżynieria materiałowa: synteza, badania i aplikację nowych materiałów cienkowarstwowych (ceramicznych: -PLZT, -DLC), oraz fizyczne i chemiczne metody wytwarzania cienkich warstw optoelektronicznych i mikroelektronicznych (PVD i CVD)
  • zastosowanie materiałów ciekłokrystalicznych w technice pomiarowej
  • spektrofotometryczne metody pomiarowe w badaniach materiałów i procesów technologicznych

Orders

  • Oferta Badawcza - * zastosowanie optoelektronicznych metod pomiarowych w nauce, technice, medycynie, ekologii * modelowanie i konstrukcje sensorów światłowodowych * badania obiektów fizycznych nieinwazyjnymi metodami optycznymi (OCT) * badania i optymalizacja konstrukcji barwnych displejów ciekłokrystalicznych * inżynieria materiałowa: synteza, badania i aplikację nowych materiałów cienkowarstwowych (ceramicznych: -PLZT, -DLC) oraz fizyczne i chemiczne metody wytwarzania cienkich warstw optoelektronicznych i mikroelektronicznych (PVD i CVD) * spektrofotometryczne metody pomiarowe w badaniach materiałów i procesów technologicznych * komputerowa analiza i projektowanie układów elektronicznych * metrologia i diagnostyka wspomagana komputerowo * pomiary i spektroskopia impedancyjna, telemetria i telediagnostyka internetowa * projektowanie systemów, mikro- i makrosystemów elektronicznych, systemów wbudowanych * testowanie i diagnostyka elektroniczna, pomiary właściwości szumowych elementów i zakłóceń w układach elektronicznych * niezawodność elementów, podzespołów i układów elektronicznych * kompatybilność elektromagnetyczna * badanie właściwości czujników gazu * spektroskopia Ramana * przetwarzanie danych (np. w aplikacjach Internet of Things)
  • Oferta Usługowa - * badania kolorymetryczne obiektów (np. na potrzeby techniki, sztuki ) * charakteryzacja źródeł światła i displejów * badania materiałów i wyrobów optyczną tomografią koherentną * szkolenia i konsultacje w zakresie wdrożenia niskokoherencyjnych technik pomiarowych oraz pomiarów sygnałów optycznych małej mocy. * zastosowanie sensorów światłowodowych w przemyśle, energetyce, budownictwie * konsultacje i projektowanie systemów próżniowych, procesów syntezy warstw PV oraz PA CVD * pomiary widmowe i reflektometryczne w sieciach światłowodowych * integracja systemów spektroskopii Ramana oraz systemów kontrolnych i pomiarowych sterowanych komputerowo * diagnostyka elementów elektronicznych * badanie kompatybilności elektromagnetycznej * przenośne systemy spektroskopii Ramana

Verified by

No verification

seen 453 times