W pracy przedstawiono nowatorskie podejście do analizy impedancyjnej sprzężonej z mikroskopią sił atomowych. Stosowane współcześnie metody pomiaru impedancyjnego w kontaktowym trybie AFM opierają się na punktowym pomiarze zmiennoprądowym z wykorzystaniem sekwencyjnego, sinusoidalnego pobudzania badanego obiektu. Autorzy proponują wykorzystanie techniki dynamicznej, co umożliwia uzyskiwanie widm impedancyjnych w warunkach ciągłego...

Przedmiotem badań mikroskopowych TEM i AFM były lane segmentowe poliuretany o zawartości 30 i 50% segmentu sztywnego. Stwierdzono obecność sferolitów (poziom mikrometrów), fibryl i globul. Ponadto zastosowanie AFM pozwoliło na zbadanie nanomorfologii badanych poliuretanów. Zaobserwowano krótkie, cylindropodobne domeny segmentów sztywnych rozproszone w matrycy segmentów giętkich.

W pracy zaprezentowano dwa nowe krótkie (4-punktowe) estymatory amplitudy chwilowej rzeczywistych sygnałów świergotowych (ang. chirp) współpracujące z 4-punktowym estymatorem pulsacji chwilowej MODCOV4p. W ten sposób otrzymano dwa demodulatory AM-FM o stosunkowo dużej dokładności obu estymat i o zakresie dynamicznym AM i FM wystarczająco szerokim do większości praktycznych zastosowań.