Search
Specjalizowane sieci neuronowe z Dwucentrowymi Funkcjami Bazowymi do zastosowań w testerach wbudowanych μBIST
Abstract
Przedmiotem artykułu są nowe, przydatne do zastosowań w testerach wbudowanych BIST, specjalizowane sieci neuronowe do lokalizacji uszkodzeń parametrycznych analogowych układów elektronicznych, o podwyższonej odporności na maskujący wpływ rozrzutów tolerancyjnych elementów nieuszkodzonych. Sieci opracowane zostały w dwóch wariantach: z Dwucentrowymi Radialnymi (DRB) oraz Elipsoidalnymi (DEB) funkcjami Bazowymi. Dzięki wydłużonym kształtom nowych funkcji bazowych, możliwe jest lepsze dopasowanie neuronów do krzywych identyfikacyjnych i zmniejszenie ich liczby w stosunku do znanych i stosowanych w diagnostyce sieci z jednocentrowymi Radialnymi (RB) lub Elipsoidalnymi (EB) funkcjami Bazowymi. W artykule przedstawiono konstrukcje funkcji DRB i DEB, strukturę klasyfikatora neuronowego oraz zabiegi optymalizacyjne mające na celu zmniejszenie złożoności obliczeniowej i dostosowanie do implementacji w testerze wbudowanym typu uBIST sterowanym mikrokontrolerem.
Authors (2)
Cite as
Full text
full text is not available in portal
Keywords
Details
- Category:
- Articles
- Type:
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Published in:
-
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
pages 144 - 147,
ISSN: 0033-2089 - Language:
- Polish
- Publication year:
- 2011
- Bibliographic description:
- Kowalewski M., Zielonko R.: Specjalizowane sieci neuronowe z Dwucentrowymi Funkcjami Bazowymi do zastosowań w testerach wbudowanych μBIST// Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania. -., nr. 9 (2011), s.144-147
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 103 times