Search
Abstract
Przedstawiono skomputeryzowaną analizę wielkości i kształtu mikroziaren ściernych elektrokurundu zwykłego i węglika boru przy użyciu specjalnego oprogramowania MultiScan v 6.08 oraz zautomatyzowane pomiary z wykorzystaniem analizatora laserowego Analysette 22. Analizowano długość, szerokość i pole powierzchni obrazu mikroskopowego mikroziaren.
Cite as
Full text
full text is not available in portal
Keywords
Details
- Category:
- Conference activity
- Type:
- publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
- Title of issue:
- X Krajowa I Międzynarodowa Konferencja Naukowo-Techniczna Metrologia w Technikach Wytwarzania. T.1. strony 41 - 52
- Language:
- Polish
- Publication year:
- 2003
- Bibliographic description:
- Barylski A.: Systemy pomiarowe wielkości mikroziaren ściernych.// X Krajowa I Międzynarodowa Konferencja Naukowo-Techniczna Metrologia w Technikach Wytwarzania. T.1./ Kraków: P.Krak., 2003, s.41-52
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 52 times