Search results for: MICROWAVE SENSORS, MICROWAVE MEASUREMENT, POST-FABRICATION TUNING, ADDITIVE MANUFACTURING, EXPERIMENTAL VALIDATION
Filters
total: 8709
filtered: 1
-
Catalog
- Publications 6845 available results
- Journals 329 available results
- Conferences 15 available results
- People 208 available results
- Projects 6 available results
- Laboratories 1 available results
- Research Teams 1 available results
- e-Learning Courses 80 available results
- Events 4 available results
- Open Research Data 1220 available results
Chosen catalog filters
Search results for: MICROWAVE SENSORS, MICROWAVE MEASUREMENT, POST-FABRICATION TUNING, ADDITIVE MANUFACTURING, EXPERIMENTAL VALIDATION
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Research Teams* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR