Search
Search results for: SURFACE TOPOGRAPHY MEASUREMENT HIGH-FREQUENCY MEASUREMENT NOISE AUTOCORRELATION FUNCTION AUTOCORRELATION FUNCTION SHAPE ANALYSIS
Filters
total: 20205
filtered: 1
-
Catalog
- Publications 15853 available results
- Journals 368 available results
- Conferences 67 available results
- Publishing Houses 1 available results
- People 248 available results
- Projects 10 available results
- Research Teams 1 available results
- e-Learning Courses 182 available results
- Events 8 available results
- Open Research Data 3467 available results
Chosen catalog filters
Search results for: SURFACE TOPOGRAPHY MEASUREMENT HIGH-FREQUENCY MEASUREMENT NOISE AUTOCORRELATION FUNCTION AUTOCORRELATION FUNCTION SHAPE ANALYSIS
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Research Teams* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR