Search results for: METODA CHARAKTERYSTYK

• Active-Error Feedforward Technique for Linearization of CMOS Transconductance Amplifier

  Publication

  • S. Szczepański
  • S. Kozieł

  - Year 2005

  W pracy przedstawiono koncepcję układową operacyjnego wzmacniacza transkonduktancyjnego CMOS o zwiększonej liniowości charakterystyk przejściowych. Proponowana struktura wzmacniacza transkonduktancyjnego opiera się na wykorzystaniu prostych transkonduktorów realizowanych za pomocą par różnicowych. Linearyzacja charakterystyki przejściowej układu następuje dzięki zastosowaniu w ścieżce "feedforward" wzmacniacza błędu. Wzmacniacz...

• Sczepność warstw asfaltowych w wielowarstwowych układach nawierzchni drogowych

  Publication

  • P. Jaskuła

  - Year 2018

  Sczepność warstw asfaltowych w konstrukcji nawierzchni drogowej ma kluczowe znaczenie dla zachowania się nawierzchni pod obciążeniem od pojazdów samochodowych. W tym celu przeprowadzono badania sczepności międzywarstwowej w schemacie Leutnera przy obciążeniu monotonicznym dla określenia maksymalnej siły ścinającej, przemieszczenia ścinającego, wytrzymałości ścinania, sztywności ścinania, energii ścinania. Dla wybranych przypadków...

  Full text to download in external service

• Mirosław Kazimierz Gerigk dr hab. inż.

  People

  Institute of Mechanics and Machine Design

• Marcin Potrykus dr inż.

  People

  Department of Economic Analysis and Finance

  A graduate of the Faculty of Management and Economics at the Gdańsk University of Technology. Since 2008, he has been employed as an Assistant at the Department of Finance at the Faculty of Management and Economics of the Gdańsk University of Technology. In 2015, he defended (in the discipline of economics) his doctoral dissertation entitled "Alternative investments - profitability and risk". Since 2016, he has been employed as...

• Strategie testowania i diagnostyki analogowych układów elektronicznych

  Publication

  • W. Toczek

  - Year 2009

  Praca dotyczy testowania i diagnostyki analogowych układów elektronicznych metodami zorientowanymi na uszkodzenia. Omówiono źródła i klasyfikację uszkodzeń, strategie testowania wykorzystujące nadmiarowość analityczną i sprzętową, wewnątrzobwodowe testowanie pakietów elektronicznych oraz zastosowanie algorytmów klasyfikacji obrazów do lokalizacji uszkodzeń. Wynikiem prac w zakresie metod analitycznych jest opracowanie przyspieszonej...