Krzysztof Piskorski
Employment
Publications
Filters
total: 1
Catalog Publications
Year 2004
-
Porównanie różnych metod pomiarów wysokości barier potencjału w strukturach MOS.
PublicationW referacie omówiono sposoby eliminacji problemów upływności bramki przy pomiarach charakterystyk C(V) kondnsatorów z ultra-cienkim tlenkiem bramki. Przedstawiono sposoby wykorzystania trójelementowego schematu zastępczego kondensatora MOS i przykład analizy pojemności, konduktancji tlenku i rezystancji szeregowej, zmierzonych przy pomocy miernika impedancji Agilent 4294A.
seen 281 times