Abstract
Przedstawiono nową metodę detekcji i lokalizacji uszkodzeń w częściach analogowych z tolerancjami elementów nieuszkodzonych mieszanych sygnałowo elektronicznych systemów wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Metoda składa się z trzech etapów. W pierwszym etapie tworzony jest słownik uszkodzeń przez aproksymację rodziny pasów lokalizacyjnych. W etapie pomiarowym wewnętrzny licznik mikrokontrolera mierzy czasy trwania impulsów na wyjściach analogowych komparatorów, z których każdy ma inne napięcie progowe. Wejścia tych komparatorów są podłączone do wyjścia badanego układu analogowego pobudzanego impulsem prostokątnym. W ostatnim etapie mikrokontroler dokonuje detekcji i lokalizacji pojedynczych uszkodzeń parametrycznych.
Citations
-
1 2
CrossRef
-
0
Web of Science
-
2 4
Scopus
Author (1)
Cite as
Full text
- Publication version
- Accepted or Published Version
- DOI:
- Digital Object Identifier (open in new tab) 10.1016/j.measurement.2009.01.014
- License
-
open in new tab
Keywords
Details
- Category:
- Articles
- Type:
- artykuł w czasopiśmie wyróżnionym w JCR
- Published in:
-
MEASUREMENT
no. 42,
pages 0 - 0,
ISSN: 0263-2241 - Language:
- English
- Publication year:
- 2009
- Bibliographic description:
- Czaja Z.: A method of fault diagnosis of analog parts of electronic embedded systems with tolerances// MEASUREMENT. -Vol. 42, nr. iss. 6 July (2009), s.0-0
- DOI:
- Digital Object Identifier (open in new tab) 10.1016/j.measurement.2009.01.014
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 95 times