Wyszukiwarka
Abstrakt
Przedstawiono nową metodę detekcji i lokalizacji uszkodzeń w częściach analogowych z tolerancjami elementów nieuszkodzonych mieszanych sygnałowo elektronicznych systemów wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Metoda składa się z trzech etapów. W pierwszym etapie tworzony jest słownik uszkodzeń przez aproksymację rodziny pasów lokalizacyjnych. W etapie pomiarowym wewnętrzny licznik mikrokontrolera mierzy czasy trwania impulsów na wyjściach analogowych komparatorów, z których każdy ma inne napięcie progowe. Wejścia tych komparatorów są podłączone do wyjścia badanego układu analogowego pobudzanego impulsem prostokątnym. W ostatnim etapie mikrokontroler dokonuje detekcji i lokalizacji pojedynczych uszkodzeń parametrycznych.
Cytowania
-
1 2
CrossRef
-
0
Web of Science
-
2 4
Scopus
Cytuj jako
Pełna treść
- Wersja publikacji
- Accepted albo Published Version
- DOI:
- Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.1016/j.measurement.2009.01.014
- Licencja
-
otwiera się w nowej karcie
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- artykuł w czasopiśmie wyróżnionym w JCR
- Opublikowano w:
-
MEASUREMENT
nr 42,
strony 0 - 0,
ISSN: 0263-2241 - Język:
- angielski
- Rok wydania:
- 2009
- Opis bibliograficzny:
- Czaja Z.: A method of fault diagnosis of analog parts of electronic embedded systems with tolerances// MEASUREMENT. -Vol. 42, nr. iss. 6 July (2009), s.0-0
- DOI:
- Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.1016/j.measurement.2009.01.014
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 75 razy