Wejściowo-wyjściowa metoda detekcji uszkodzeń w elektronicznych układach analogowych uwzględniająca tolerancje elementów. - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Wejściowo-wyjściowa metoda detekcji uszkodzeń w elektronicznych układach analogowych uwzględniająca tolerancje elementów.

Abstrakt

Przedstawiono nowe podejście detekcji i lokalizacji uszkodzeń w elektronicznych układach analogowych z uwzględnieniem tolerancji elementów. Składa się ono z dwóch etapów. W pierwszym etapie tworzony jest słownik uszkodzeń składający się z opisu elipsy aproksymującej obszar nominalny reprezentujący brak uszkodzeń i współczynników określających szerokość pasów lokalizacyjnych. Zaprezentowano nowy algorytm tworzenia takiej elipsy i algorytm wyznaczania szerokości pasa lokalizacyjnego. W drugim etapie omówiono algorytm detekcji i lokalizacji uszkodzeń.

Cytuj jako

Pełna treść

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

Słowa kluczowe

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Publikacja w czasopiśmie
Typ:
artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
Język:
polski
Rok wydania:
2004
Opis bibliograficzny:
Czaja Z.: Wejściowo-wyjściowa metoda detekcji uszkodzeń w elektronicznych układach analogowych uwzględniająca tolerancje elementów. // . -., (2004),
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

wyświetlono 66 razy

Publikacje, które mogą cię zainteresować

Meta Tagi