Abstract
W pracy przedstawiono metodę pomiaru impedancji opartą na próbkowaniu sygnałów oraz wyznaczaniu ich parametrów z zastosowaniem algorytmów cyfrowego przetwarzania sygnałów. Zastosowano dyskretną transformację Fouriera do wyznaczania składowych ortogonalnych sygnałów pomiarowych. Przeprowadzono analizę dokładności pomiaru impedancji uwzględniającą rozdzielczośc przetworników a/c, amplitudę sygnału pomiarowego, liczbę zebranych próbek w czasie pomiaru oraz stosunek składowych ortogonalnych impedancji mierzonej. Wyniki badań symulacyjnych pozwoliły na zrealizowanie analizatora do spektroskopii wysokoimpedancyjnej w szerokim zakresie częstotliwości od bardzo niskich 100uHz do 1MHz.
Authors (2)
Cite as
Full text
- Publication version
- Accepted or Published Version
- License
- open in new tab
Keywords
Details
- Category:
- Articles
- Type:
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Published in:
-
Measurement Automation Monitoring
pages 45 - 47,
ISSN: 2450-2855 - Language:
- Polish
- Publication year:
- 2006
- Bibliographic description:
- Hoja J., Lentka G.: Analizator do spektroskopii wysokoimpedancyjnej wykorzystujący DFT w detekcji fazoczułej// Pomiary Automatyka Kontrola. -., nr. nr. 6 (2006), s.45-47
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 105 times