Search
Abstract
W artykule omówiono metodę badania wewnętrznej struktury materiałów ceramicznych z wykorzystaniem interferometrii niskokoherentnej. Przedstawiono układ pomiarowy optycznej tomografii koherentnej, wykorzystujący niskokoherentny interferometr do badania niejednorodności występujących w strukturze ośrodków rozpraszających. Zaprezentowano wyniki pomiarów grubości i niejednorodności ceramicznych warstw PLZT. Przeprowadzono rozważania nad możliwościami wykorzystania niskokoherentnych interferometrycznych technik pomiarowych do kontroli i optymalizacji procesów wytwarzania ceramicznych warstw PLZT.
Authors (3)
Cite as
Full text
full text is not available in portal
Keywords
Details
- Category:
- Conference activity
- Type:
- publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
- Title of issue:
- KKE : VII Krajowa Konferencja Elektroniki, Darłówko Wschodnie, 02-04 czerwca 2008. Tom 1 strony 135 - 140
- Language:
- Polish
- Publication year:
- 2008
- Bibliographic description:
- Strąkowski M., Kosmowski B., Pluciński J.: Badanie niejednorodności warstwy ceramiki PLZT metodami optycznej interferometrii niskokoherentnej// KKE : VII Krajowa Konferencja Elektroniki, Darłówko Wschodnie, 02-04 czerwca 2008. Tom 1/ ed. red. W. Janke, M. Bączek, S. Łuczak Koszalin: Wydaw. Politech. Koszal., 2008, s.135-140
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 102 times
Recommended for you
LTCC compatible PLZT thick-films for piezoelectric devices.
- J. Juuti,
- A. Łoziński,
- S. Leppavuori
2004